隨著技術的不斷進步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優異的性能被廣泛應用于各種電子設備中。然而,這些器件在長期連續使用后會出現老化現象,導致性能退化。如何在短時間內準確評估這些器件的老化特性,成為行業關注的焦點。
在當今快速發展的電力電子技術領域,功率半導體器件的性能優化至關重要。雙脈沖測試(DPT)作為一種關鍵的測試方法,為功率器件的動態行為評估提供了精準的手段。本文將深入解析雙脈沖測試的原理、應用及泰克科技在這一領域的先進解決方案,并介紹泰克專家高遠新書的相關內容。
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