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EMI測(cè)試的基本觀念【臺(tái)灣姚啟元】
| 資料語言： | 簡(jiǎn)體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
| 瀏覽次數(shù)： | 0 |
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| 更新時(shí)間： | 2015-08-19 18:36:36 |
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隨著電子產(chǎn)品數(shù)位化的普及，各國也紛紛對(duì)電磁干擾的問題加以重視，在可以預(yù)見的未來，大部份的電子產(chǎn)品，在銷售到市場(chǎng)之前，都會(huì)被要求符合相關(guān)的EMI測(cè)試規(guī)格，而在EMI測(cè)試上的許多名詞與方法，一直缺少詳盡的說明與解釋。本文即針對(duì)在EMI測(cè)試上常會(huì)遇到的一些問題，提供讀者作一參考。
分以下四部分進(jìn)行介紹：
一、EMI要求測(cè)試的精確度為何？
二、何謂一標(biāo)準(zhǔn)的EMI測(cè)試場(chǎng)地？
三、為什么Open Site四周必須無反射物？
四、為什么要使用Ground Plane？
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