• 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 12636-1990
• 標(biāo)準(zhǔn)名稱：微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線 測(cè)試方法
• 行業(yè)分類：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB)
• 中標(biāo)分類：基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法(L04)
• ICS分類：29.040.20
• 標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的帶狀線測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試各種基片（如塑料、復(fù)合材料、陶瓷、硅酸鹽和其他單晶體材料等）在微波頻率下的復(fù)介電常數(shù)。
• 英文名稱：Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates
• 發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
• 發(fā)布日期：1990-01-02
• 實(shí)施日期：1991-10-01
• 首發(fā)日期：1990-12-28
• 提出單位：－
• 歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
• 主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
• 起草單位：電子科技大學(xué)
• 起草人：－
• 計(jì)劃單號(hào)：－
• 頁(yè)數(shù)：平裝16開(kāi)， 頁(yè)數(shù)：12， 字?jǐn)?shù)：20000
• 出版社：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
• 出版日期：－

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