在高速串行數(shù)據(jù)技術(shù)的推動(dòng)下，性能指標(biāo)日新月異

TDR高速串行互連測試和驗(yàn)證

– TDR的原理和應(yīng)用

– TDR在信號完整性SI(Signal Integrity)中的應(yīng)用

 泰克公司TDR測試解決方案

泰克串行數(shù)據(jù)鏈路測試解決方案

計(jì)算機(jī)、通信系統(tǒng)、視頻系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)等領(lǐng)域的數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)人員正面臨著越來越快的時(shí)鐘頻率和數(shù)據(jù)速率，隨之，信號完整性變得越來越重要。在當(dāng)前的高工作速率下，影響信號上升時(shí)間、脈寬、時(shí)序、抖動(dòng)或噪聲內(nèi)容的任何事物都會影響整個(gè)系統(tǒng)的性能和可靠性。為保證信號完整性，必須了解和控制信號經(jīng)過的傳輸環(huán)境的阻抗。阻抗不匹配和不連續(xù)會導(dǎo)致反射，增加系統(tǒng)噪聲和抖動(dòng)，在整體上降低信號的質(zhì)量。

 

 阻抗控制是當(dāng)前許多數(shù)字系統(tǒng)、元器件規(guī)范的一部分，如USB2.0，F(xiàn)irewire（IEEE 1394），PCI Express，Infiniband，Serial ATA，XAUI等規(guī)范。業(yè)內(nèi)已經(jīng)普遍使用仿真工具設(shè)計(jì)高速電路，仿真加快了設(shè)計(jì)周期，最大限度地減少了錯(cuò)誤數(shù)量。但是仿真之后，必須進(jìn)行工程驗(yàn)證來檢驗(yàn)仿真設(shè)計(jì)，這其中就包括阻抗測量。