測量介電性質(zhì)的微波方法主要可分為兩類 [1]:

● 傳輸反射法 (例如在同軸線、波導(dǎo)和自由空間中測量，或使用開放式同軸線測量)和

● 諧振法

SPDR 測量技術(shù)是諧振法之一。傳輸反射法可以在其運行的頻率范圍內(nèi)的“任意”點進行掃描測量，而諧振法使用單一頻率 (或，至多針對不同模式使用幾個頻率點)。諧振器和腔體提供最高精度來測量實際介電常數(shù)，并可測量其他技術(shù)無法測量的損耗極低的材料。應(yīng)在離散頻率點執(zhí)行足夠的測量，因為無損材料幾乎是非分散的。這說明它們的介電常數(shù)和損耗正切值將在頻率范圍保持不變。SPDR 的結(jié)構(gòu)使用了最新的低損耗介電材料，使其能夠建立具有更高 Q因數(shù)且熱穩(wěn)定性優(yōu)于傳統(tǒng)全金屬腔體的諧振器 [2,3]。

 

SPDR 的主要優(yōu)勢是:

● 較之傳輸反射法具有出色精度

● 能夠測量低損耗材料 (傳輸反射技術(shù)無法材料損耗較低的材料)

● 可對基片、印刷電路板和薄膜進行方便、快速的無損測量