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| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時間： | 2014-08-18 14:43:01 |
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噪聲系數(shù) (NF) 測量是在制造業(yè)研發(fā)和流程驗證中進(jìn)行器件表征的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。進(jìn)行精確的晶圓噪聲系數(shù)測量可能并不簡單，要想得到良好的測量結(jié)果，這取決于所采用的測量方法和測試配置。
噪聲系數(shù)測量一般使用兩種方法 : Y 因子方法和冷源法。Y 因子 ( 或熱 / 冷源 ) 測量法是兩者中的主導(dǎo)方法，大多數(shù)情況下通過噪聲系數(shù)分析儀和基于頻譜分析儀的解決方案來實現(xiàn)。相比之下，冷源測量法一般通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 實現(xiàn)，分析儀提供幅度和相位信息。因此，冷源技術(shù)能夠獲得更高的噪聲系數(shù)測量精度。
本應(yīng)用指南講解了基于 AgilentPNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀的冷源測量解決方案。PNA-X 裝有信號源校正噪聲系數(shù)測量選件 ( 選件 029)，提供一流的精度。新硬件支持高達(dá) 50 GHz 的測量。在 50 GHz 至 67 GHz 頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測量時，需要使用額外的外部硬件。PNA-X 還能夠縮短測量時間 : 它通過與被測器件 (DUT) 進(jìn)行單次連接來執(zhí)行多種測量，例如噪聲系數(shù)、S參數(shù)、增益壓縮和互調(diào)失真 (IMD)。
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