“2018 IEEE國際暨亞太電磁兼容聯(lián)合會議及展覽會”于5月14日至5月17日在新加坡舉辦并獲得圓滿成功。通用測試（GTS）代表團(tuán)參加了本次行業(yè)盛事并斬獲多項榮譽。

于偉博士獲得“IEEE 技術(shù)成就獎”

可用于4G及5G MIMO OTA測試的“輻射兩階段法”（Radiated Two-Stage，RTS方法）已正式被3GPP標(biāo)準(zhǔn)組織承認(rèn)為測試標(biāo)準(zhǔn)。作為該國際標(biāo)準(zhǔn)的提出者，通用測試在RTS方法的研究中起主導(dǎo)作用并做出了巨大貢獻(xiàn)。IEEE協(xié)會向通用測試于偉博士頒發(fā)了“IEEE 技術(shù)成就獎”，該獎項表彰在計算機(jī)、信息科學(xué)、工程學(xué)或計算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域創(chuàng)新性、及推動本領(lǐng)域技術(shù)進(jìn)步的貢獻(xiàn)。

于偉博士

不僅如此，通用測試代表團(tuán)還主持并參加了與5G天線測量相關(guān)的1場Workshop及3場Special session。

漆一宏博士主持workshop

會議上，中國大陸代表團(tuán)共發(fā)表論文178篇，其中通用測試貢獻(xiàn)了7篇。

通用測試團(tuán)隊

種種殊榮的獲得并不是偶然，它離不開通用測試自成立以來，始終專注技術(shù)研發(fā)，專注創(chuàng)新，專注為客戶創(chuàng)造價值。

隨著5G時代的來臨，通用測試更是憑借在測量理論、電磁環(huán)境、基礎(chǔ)部件與材料、測試算法、系統(tǒng)集成等方面綜合優(yōu)勢，在毫米波、相控陣天線、大功率天線測量等領(lǐng)域和是德科技（Keysight）、谷歌（Google）、高通（Qualcomm）等世界一流公司和國內(nèi)國防基地與航天研究院開展了廣泛合作。