R&S公司將參加于2009年2月26至27日在深圳會(huì)展中心、3月10日至11日在上海世貿(mào)商城舉辦的“2009年國(guó)際集成電路研討會(huì)暨展覽會(huì)”，并展示其針對(duì)集成電路的測(cè)試解決方案。
 
在基帶芯片和射頻芯片測(cè)量方面，R&S推出了用于數(shù)字I/Q信號(hào)轉(zhuǎn)換的硬件工具R&S® EX-IQ BOX，廣泛應(yīng)用于不同數(shù)字I/Q標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)換，是連接矢量信號(hào)源（如R&S® SMU、SMJ、SMBV、AFQ、AMU），矢量信號(hào)分析儀（如R&S® FSQ、FSG、FSV）與待測(cè)的基帶或射頻芯片的樞紐。利用EX-IQ BOX，結(jié)合R&S的矢量信號(hào)源和矢量信號(hào)分析儀，可以解決射頻、基帶芯片測(cè)量過(guò)程中基帶模擬、衰落模擬、基帶和射頻信號(hào)分析中的諸多難題，具有廣闊的應(yīng)用前景。

在測(cè)試ADC和FPGA時(shí)，可能同時(shí)需要高質(zhì)量的射頻和時(shí)鐘信號(hào)，高性能的信號(hào)源R&S® SMA是一臺(tái)二合一的儀器，它不但能產(chǎn)生極低相噪的高質(zhì)量射頻信號(hào)，還能產(chǎn)生高穩(wěn)時(shí)鐘（頻率可高達(dá)1.5GHz）。因此可以用一臺(tái)儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)射頻信號(hào)源＋時(shí)鐘信號(hào)源的功能。除此之外，R&S公司有各種信號(hào)源和頻譜儀可供選擇， R&S公司的頻譜分析儀具備創(chuàng)新性的測(cè)試和全面的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能，產(chǎn)品型號(hào)從手持式的R&S® FSH到高端的信號(hào)分析儀R&S® FSQ，再加上基帶分析儀R&S® FMU，組成了一個(gè)全系列的解決方案。

差分電路形式具有抗電磁干擾性能力強(qiáng)、工藝上易于實(shí)現(xiàn)的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于射頻微波的芯片/集成電路。以往測(cè)試這些器件通常采用傳統(tǒng)的“虛擬”差分方法：網(wǎng)絡(luò)分析儀用單端（single-ended）信號(hào)激勵(lì)被測(cè)件，測(cè)出其不平衡（unbalanced）參數(shù)，然后網(wǎng)絡(luò)分析儀通過(guò)數(shù)學(xué)計(jì)算，把不平衡參數(shù)轉(zhuǎn)換成平衡參數(shù)。但是這種“虛擬”差分方法由于沒(méi)有在采用真正的差分信號(hào)激勵(lì)被測(cè)件，其準(zhǔn)確性不能保證。為了正確測(cè)量差分低噪聲放大器、混頻器、聲表濾波器等器件的特性參數(shù)，R&S創(chuàng)新了平衡器件測(cè)試概念，率先推出了“真”差分的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)R&S® ZVA－K6，該技術(shù)通過(guò)產(chǎn)生一對(duì)真實(shí)差分信號(hào)激勵(lì)待測(cè)件，可以測(cè)得器件在真實(shí)差分信號(hào)激勵(lì)條件下的完全S參數(shù)，同時(shí)還具備掃頻、掃功率的功能。整個(gè)測(cè)試過(guò)程具有在線自動(dòng)化能力。

羅德與施瓦茨公司
總部位于慕尼黑的羅德與施瓦茨公司，是國(guó)際上著名的跨國(guó)公司，活躍于測(cè)試與測(cè)量，信息技術(shù)與無(wú)線通信領(lǐng)域，其子公司和代表處遍及世界70多個(gè)國(guó)家，公司依靠所擁有的廣泛的專有技術(shù)和員工旺盛的創(chuàng)新精神，在涉足的各個(gè)領(lǐng)域中都處于技術(shù)領(lǐng)先者的地位。
當(dāng)前R&S活躍于下列領(lǐng)域：
    測(cè)試與測(cè)量
    移動(dòng)無(wú)線電
    集群通信
    無(wú)線電通訊
    情報(bào)搜索
    頻譜監(jiān)測(cè)
    天線
    信息技術(shù)安全