近日，中國航天科工二院203所成功研制出多通道頻標比對裝置，解決了高指標原子頻標產品的測試問題。該裝置在性能上已經達國際同類產品水平，填補了國內同類測試設備空白。

該裝置主要用于高指標原子頻標頻率穩定特性測試，晶體頻標、電子儀器設備中的晶體振蕩器、頻率合成器等頻率源之間頻率穩定特性測試，以及放大器、倍頻器等二端口部件的附加頻率不穩定性測試，具有技術指標高、技術方案先進、方便易用、多通道、可維修性高、可擴展性強等優點，能夠滿足高指標頻率穩定度的測試需求，應用前景廣闊。

同時，該裝置還在北斗二代二期心臟星載銣鐘進行可靠性和穩定性測試中發揮了舉足輕重的作用。