- 集成MD8475A和MF6900A能夠實現一個或兩個LTE基站的信道衰落仿真-
安立公司在剛剛結束的美國無線通信展（CTIA）上展示了MD8475A的信道衰落接口與MF6900A基帶衰落仿真儀的連接。有了這個接口，MD8475A擁有LTE衰落功能，包括多徑衰落，時延特性，支持多達2x2 MIMO的多天線信道模型。
“我們很高興能加入衰落模擬功能到MD8475A中，為其豐富的測試能力錦上添花。”安立公司的副總裁和總經理Wade Hulon說，“我們知道，在實驗室的仿真環境下去測試終端要比使用測試網絡或現實網絡更容易，所以我們通過這個新功能，能讓測試變得更有時效，更節約成本。”
MD8475A應用測試儀是一個集成多種功能的，基于Windows 7的測試儀，它能夠模擬兩個基站，支持LTE，W-CDMA，GSM/EGPRS和CDMA2000通信標準。通過在MD8475A里安裝服務器或連接到外部服務器來支持端到端測試。安立公司的SmartStudioGUI提供簡易的圖形控制界面，而且不需要腳本就能模擬真實的網絡。新增加了可選的VoLTE的測試功能，內部的CSCF服務器能夠驗證并建立VoLTE回環呼叫，能夠選擇不同服務器的響應狀態，包括忽視和拒絕。
新選項的增加，讓工程師能夠集成MD8475A與MF6900A來運行3GPP LTE標準規定的衰落模擬測試，包括SISO和2x2 MIMO配置。MF6900A采用全數字基帶處理以確保衰落在相同設置下的重復性，同時大大簡化了MIMO功率控制困難，實現更高的精確度。
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