雷迪埃推出射頻測試探針
作為在創(chuàng)新互連解決方案領域設計,開發(fā)與制造的全球領導者,雷迪埃于2014年7月開始生產(chǎn)射頻測試探針。測試探針被廣泛應用于電子工業(yè)的批量生產(chǎn)過程中。然而,很多時候,射頻連接器是被單個測試的,測試效率也因此大大地被降低了。
隨著雷迪埃射頻測試探針的誕生,對射頻產(chǎn)品的測試將不再會延緩生產(chǎn)時間。雷迪埃測試探針的創(chuàng)新設計,使得射頻飛行試驗得以實施,并確保生產(chǎn)線能最佳速度運轉。雷迪埃的這一創(chuàng)新設計理念不但提高了測試速度,增強了應用,而且極大地提高了故障檢出率。
這些探針的性能非常適用于將測試設備直接連接到被測設備(DUT)。這已經(jīng)是當今自動化設備制造業(yè)的發(fā)展趨勢: 通過廣泛使用飛行射頻探針,提高生產(chǎn)效率,以成就最大的生產(chǎn)量。
特別設計的帶有內(nèi)部和外部導體的彈簧接觸探針,能夠適應各種射頻設備的特別要求。這種設計可以使信號以最小的損失在一個較寬的頻帶中進行傳送。
雷迪埃射頻測試探針的范圍包括連接測試SMP(公)、SMP-MAX(公)、SMA(母)、MMBX(母)以及SMB(公)。同心設計并加載彈簧的內(nèi)部和外部導體,保護了同軸導體免受外部干擾。內(nèi)外導體間的能量以類似的方式被轉換成波導技術。同軸設計的概念使交直流可以互相轉移。
雷迪埃射頻測試探針在一些領域的應用是非常適合的,如自動PCB測試和生產(chǎn)平臺測試。其主要特性和優(yōu)勢包括:頻率高、壽命長和多功能性。