支持4×4 MIMO和8X2 MIMO信道衰落測試

安立公司將信道衰落模擬功能集成到業(yè)界領(lǐng)先的4G LTE-Advanced信令測試儀MD8430A中。新的數(shù)字基帶衰落選件，將MD8430A信令測試儀變成支持行業(yè)標準3GPP定義的衰落曲線的全功能信道衰落模擬器。

MD8430A信道衰落選件可與MD8430A相結(jié)合，減少投資額外硬件來實現(xiàn)真實射頻（RF）條件下執(zhí)行信號測試的需求。這是第一個LTE-Advanced使用內(nèi)置衰落模擬器支持4×4 MIMO下行鏈路配置的信令解決方案。

MD8430A為LTE和LTE-Advanced的開發(fā)工程師們所信賴，被認為是用于模擬實驗室LTE網(wǎng)絡(luò)的領(lǐng)先的信令測試儀。隨著這次發(fā)布，多功能的MD8430A硬件平臺不斷發(fā)展，為安立公司的客戶提供更好的投資回報。

通過建筑物和樹木一樣的高大的結(jié)構(gòu)，反射和散射無線電波傳送，這意味著接收器實際接收到來自“多路徑”具備不同強度、時間和方向到達的多個原始信號。LTE-Advanced的一個主要特點是多輸入多輸出（MIMO）天線系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過運用多路徑傳輸提高設(shè)備性能。為了更加仔細有效地測試此類MIMO設(shè)備，多路徑衰落效應(yīng)必須以可重復(fù)的方式準確地施加到每一個天線。

采用內(nèi)部數(shù)字基帶處理，MD8430A在測試執(zhí)行過程中應(yīng)用多路徑效應(yīng)，快速測試設(shè)計（RTD）軟件為測試人員提供用于創(chuàng)建和運行衰落模擬測試的集成環(huán)境。支持LTE-Advanced功能，如載波聚合和MIMO，使MD8430A成為幫助領(lǐng)先的芯片設(shè)計人員構(gòu)建下一代高性能移動設(shè)備的理想解決方案。除了通過RF連接測試設(shè)備，帶衰減選件的MD8430A也支持慢時鐘數(shù)字接口，在昂貴的ASIC生產(chǎn)之前，先在仿真環(huán)境中驗證設(shè)計。