泰克推出2461 SourceMeter®圖形源表儀器，觀察和分析高達10A、1000W的待測器件特點

全球領先的測試測量和監測儀器提供商——泰克科技公司日前宣布，推出一款簡便易用的圖形源測量單元(SMU)儀器，用以優化和分析高功率材料、器件和模塊的特性。

Keithley 2461高電流源表SMU儀器為創建精確控制的10 A/100 V、1000 W高電流脈沖提供了許多先進的功能，最大限度地降低功率器件熱量效應，保持器件的完整性。雙18位高速模數轉換器可以簡便地測量待測器件特點，并在前面板上直接以圖形方式顯示，立即進行分析。在久負盛名的2450和2460 SMU平臺基礎上，2461擁有同類最高的DC和脈沖源和阱性能，用戶可以更深入地了解設計的特點。

開發下一代高功率材料和器件的科研人員、科學家和設計工程師必需能夠在各種DC和脈沖功率上進行測量，檢驗待測器件性能，同時使器件自熱效應達到最小，因為自熱經常導致器件或模塊故障。這適用于材料研究、半導體器件、電路保護裝置、高級照明技術、能源貯存和生成器件及消費電子中使用的功率管理電子等市場。

“全球綠色能源計劃和能源效率標準正在推動對更高效的功率半導體器件和系統的需求。”泰克科技公司吉時利產品線總經理Mike Flaherty說，“最新的高功率應用是非常苛刻的，要求測試儀器能夠分析比以前明顯更高的電流、更高的功率、更高的峰值電流、以及更低的泄漏電流。2461滿足了這一需求，提供了前所未有的同類領先的性能和界面友好組合。”

與泰克其他吉時利圖形SMU一樣，2461提供了簡單直觀的Touch, Test, Invent®用戶體驗，最大限度地縮短學習周期，加快測試設置，更快地獲得所需信息。通過圖形觸摸屏界面，用戶可以像在智能手機和平板電腦上一樣，使用自然手勢在前面板上直接與結果交互，迅速放大和縮小數據，同時進行詳細的分析。內置開放源腳本語言使得用戶能夠為專門的測量應用創建可以重用、可以量身定制的測試軟件庫。

2461的10A/100V、1000W脈沖功率使得工程師可以在更短的時間內對待測器件應用更多的功率，最大限度地降低待測器件的自熱效應，相比之下，DC電流測試則可能會掩蓋待測器件的真實特點。如果應用電流的時間太長，DC測試還可能會損壞待測器件。由于18位雙1 MS/s模數轉換器，2461可以同時測量和查看待測器件特點、波形以及電流和電壓的瞬態事件。全新的快速“接觸檢查”功能可以幫助用戶最大限度地降低測量誤差，減少與接觸疲勞、探頭尖端雜質、連接松動或斷開和繼電器故障有關的產品誤判。這些功能讓用戶對測試結果更自信，從而可以更快地做出設計和工程決策。

上市時間

2461高電流源表SMU儀器現已可以在全球范圍內訂購，如需更多信息，請訪問：http://www.tek.com/keithley-source-measure-units/smu-2450-60-graphical-sourcemeter。

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