東芝面向智能手機(jī)低噪聲射頻放大器推出實(shí)現(xiàn)低噪聲系數(shù)的SOI工藝
東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社近日宣布研發(fā)出新一代TarfSOITM(東芝先進(jìn)的RF SOI[1])工藝--“TaRF10”,該工藝經(jīng)優(yōu)化適用于智能手機(jī)應(yīng)用中的低噪聲放大器(LNA)。
近年來(lái),移動(dòng)數(shù)據(jù)通信的快速發(fā)展使得射頻開(kāi)關(guān)和濾波器在移動(dòng)設(shè)備模擬前端中得到了廣泛應(yīng)用。從而導(dǎo)致天線與接收器電路之間的信號(hào)損耗增加,使得接收器靈敏度下降,而低噪聲系數(shù)[2](NF)的LNA成為補(bǔ)償信號(hào)損耗和提高接收信號(hào)完整性的關(guān)鍵。
東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社已利用其全新的TaRF10工藝成功研發(fā)出LNA原型機(jī),該原型機(jī)可在1.8GHz頻率下實(shí)現(xiàn)0.72dB的卓越噪聲系數(shù)和16.9dB的增益[3]。
移動(dòng)設(shè)備在接收器電路中使用大量射頻開(kāi)關(guān)和LNA,因此需減少電路尺寸來(lái)減少對(duì)基板面積的占用。目前,LNA通常使用硅鍺碳(SiGe:C)雙極晶體管,這使得在同一芯片上集成采用不同工藝制造的LNA和射頻開(kāi)關(guān)非常困難。
由于TaRF10新工藝與制造射頻開(kāi)關(guān)的TaRF8和TaRF9工藝高度兼容,可確保卓越的射頻特性,因此可在單一芯片上實(shí)現(xiàn)LNA、控制電路和射頻開(kāi)關(guān)的集成。與TaRF8相比,TaRF9實(shí)現(xiàn)了更低的插入損耗和信號(hào)失真。如今,東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社計(jì)劃將搭載集成射頻開(kāi)關(guān)的LNA投放市場(chǎng)。
東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社依托旗下子公司Japan Semiconductor Corporation采用最新的SOI-CMOS技術(shù)成功研發(fā)出射頻IC,公司有能力實(shí)施從射頻工藝技術(shù)研發(fā)到設(shè)計(jì)和制造的全部生產(chǎn)流程,可確保產(chǎn)品快速上市。
該公司將繼續(xù)利用尖端技術(shù)進(jìn)一步改進(jìn)TarfSOITM工藝特性并研發(fā)射頻IC,以滿足下一代5G智能手機(jī)的市場(chǎng)需求。
表1.LNA的主要規(guī)格
模式 | 采用TaRF 10 工藝的LNA |
單位 | |
芯片尺寸 | - | 0.70×0.43 | Mm |
頻率 | - | 1.8 | GHz |
電源電壓 | - | 1.8 | V |
電源電流 | 增益模式 | 7.4 | mA |
旁路模式 | 50 | μA | |
控制電壓 | 增益模式 | 1.8 | V |
旁路模式 | 0 | V | |
增益 | 增益模式 | 16.9 | dB |
旁路模式 | -1.6 | dB | |
NF | 增益模式 | 0.72 | dB |
回波損耗(輸入) | 增益模式 | 8.4 | dB |
回波損耗(輸出) | 增益模式 | 12.1 | dB |
反向隔離 | 增益模式 | 26.5 | dB |
IP1dB | 增益模式 | -8.9 | dBm |
IIP3 | 增益模式 | 4.3 | dBm |
注:
[1] TarfSOITM(東芝先進(jìn)的RF SOI):東芝獨(dú)一無(wú)二的絕緣硅互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(SOI-CMOS)前端工藝[2] 噪聲系數(shù):輸出端信噪比和輸入端信噪比的比值。噪聲系數(shù)越低,放大器自身噪聲則越低,因此噪聲系數(shù)越低越好。
[3] 增益:放大器輸出功率與輸入功率的比值,用dB表示
* 本文提及的公司名稱、產(chǎn)品名稱和服務(wù)名稱均為其各自公司的商標(biāo)。