2009年3月18日訊：吉時利儀器公司(NYSE：KEI)，作為新興測量解決方案的領導者，今日宣布將在中國啟動“吉時利2009中國科研測試設備現場體驗巡回展示”，專門為高校和研究機構搭建學、研和具體實踐操作及面對面交流的平臺。首場活動將于3月31日下午在北京麗亭華苑酒店三層鴻運廳舉行，詳情請參見http://www.keithley.cn/edm/9/seminar/beijing/pr/ 。

　　本次活動中，吉時利將以涵蓋微弱信號/低電平測試、半導體測試及IV、射頻測試等三大領域的多款測試測量儀器，現場提供大量的產品演示、精彩的技術講解和免費的技術咨詢。與會者不但能了解到最新的測試測量技術，更能即時解決在日常教學、生產、科研及工作中遇到的測試問題，還可以親手操作，現場咨詢遇到的技術難題。

　　微弱信號/低電平測試解決方案

　　六十余年來，吉時利在微弱信號測試和源產生方面一直處于世界領先水平，包括低電流/高阻測量、低電壓/低電阻測量等解決方案，提供電壓、電流、電阻、溫度、電容以及電荷等微弱電信號的測試，可用于材料研究實驗室的導電測試以研發新的納米材料、原型和工藝過程，及工業界生產線測試。低電壓測量儀器、低電流測量儀器、開關和源，特別適用于光電器件、顯示器、汽車電子、軍事/航天等領域的有源和無源器件的高準確度測量。

　　此次活動，所用演示儀器包括具有代表性的皮安表、靜電計、源測量單元等解決方案，如6430型亞fA遠程源表、6517A型靜電計、6514型靜電計、6485型皮安表、6487型皮安表/電壓源、2502型雙通道皮安表、6220型直流電流源、6221型交流和直流電流源、2182A型納伏表、2001/2002數字多用表等。

　　半導體測試及IV解決方案

　　憑借擁有無可匹敵的靈敏度和自動化測試的特性參數分析及測試系統，吉時利成為半導體測試解決方案的領導者。吉時利的半導體測試方案具有多功能、可升級、可擴展等特點，包括自動參數測試系統，晶片可靠性(WLR)系統和I-V/C-V測試系統等，專注于幫助客戶應對不斷變化的新材料、新工藝和新結構的挑戰。可用于材料研究、器件特性分析、可靠性測試和晶圓生產工藝的監控。

　　吉時利在本次活動中將演示4200型半導體特性分析系統(4200-SCS系統、4200-CVU)、自動特性分析組合(ACS)以及2635和2636型數字源表。4200-SCS系統以一套緊密集成的特征分析方案取代了多個分離的電子測試工具，非常適合于半導體技術研究、工藝開發、可靠性實驗室/材料與器件研究實驗室的材料研究，也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場合。4200-CVU將C-V測試選件集成到4200型分析系統中，使用戶能夠在同一平臺上完成直流、脈沖和C-V的測量。自動特性分析組合(ACS) 用于搭建集成化的測試平臺，可根據用戶的測試需求量身定制，提供可配置的靈活測試方案。本部分還將結合數字源表演示吉時利獨有的測試腳本處理器(TSP) 技術。

　　射頻測試解決方案

　　吉時利提供了全套的射頻測試與測量解決方案，適用于手機、傳呼機、基站以及數字交換系統的測試，并能夠滿足最新的 WLAN , WiMAX, TD-SCDMA, WCDMA等對SISO 和MIMO 測試的需求，可用于產品設計、生產和QA/QC實驗室。借助先進的矢量信號分析儀、矢量信號發生器以及MIMO射頻測試系統等創新產品，吉時利為高速發展的無線測試領域提供最新的測量手段。利用SignalMeister軟件，工程師都可以通過基于框圖式的圖形用戶界面快速而方便地創建并分析信號。