安捷倫科技(Agilent)將于6月2日至7日在美國西雅圖舉辦的IEEE MTT-S國際微波研討會中，展示旗下二十五款最新的設計和測量解決方案。同時，Agilent X系列信號分析儀之硬件控制軟件首席架構師Gordon Strachan，也將于6月5日上午11點10分，在MicroApps館發表演講，主題為《現代射頻測量以及它們如何推動頻譜分析儀數字中頻處理器的發展與設計》。

此次安捷倫將展出從電路級建模到系統驗證等各式解決方案，為一般射頻、微波、4G通信，以及航天/國防應用，提供最全面的測量支持。主要展示產品包括設計軟件Agilent EEsof EDA 解決方案，可協助工程師克服重大的RFIC設計挑戰。這些解決方案包括ADS 2013，支持多種技術(Multi Technology)和電熱(Electro- thermal)測量；EMPro，具有多項整合入ADS設計平臺的3-D EM模擬技術；以及SystemVue 2013，具備適用于衛星通信/全球衛星導航系統(GNSS)、雷達、4G/MSR、DPD和FPGA硬件回路的設計專用軟件。

網絡分析--安捷倫測試解決方案讓工程師透過單一鏈接，即可同時連接多個HDMI和WiGig組件，以便加速進行測量。該毫米波解決方案采用PNA-X網絡分析儀，可通過一個鏈路連接待測組件，以便描述發射/接收系統的特性。

Agilent FieldFox手持式分析儀提供遠程式控制功能和新的Remote Viewer iOS應用程序，方便用戶透過iPad或iPhone進行精確的射頻和微波測量。此外，為協助工程師有效測試雷達系統之脈沖特性，FieldFox特別新增了頻譜分析時閘(Time-gating)選項，以及USB峰值功率傳感器支持。

Agilent 8507xE.07系列軟件可以輕易測量電磁材料的特性。新的直覺式操作接口增加了更多條軌跡、多個圖表、先進的軌跡數學運算和標記功能，讓用戶能以前所未見的簡易方式，分析大量的數據。