安捷倫科技(Agilent)將于6月2日至7日在美國西雅圖舉辦的IEEE MTT-S國際微波研討會中，展示旗下二十五款最新的設計和測量解決方案。同時，Agilent X系列信號分析儀之硬件控制軟件首席架構師Gordon Strachan，也將于6月5日上午11點10分，在MicroApps館發(fā)表演講，主題為《現(xiàn)代射頻測量以及它們?nèi)绾瓮苿宇l譜分析儀數(shù)字中頻處理器的發(fā)展與設計》。

此次安捷倫將展出從電路級建模到系統(tǒng)驗證等各式解決方案，為一般射頻、微波、4G通信，以及航天/國防應用，提供最全面的測量支持。主要展示產(chǎn)品包括設計軟件Agilent EEsof EDA 解決方案，可協(xié)助工程師克服重大的RFIC設計挑戰(zhàn)。這些解決方案包括ADS 2013，支持多種技術(Multi Technology)和電熱(Electro- thermal)測量；EMPro，具有多項整合入ADS設計平臺的3-D EM模擬技術；以及SystemVue 2013，具備適用于衛(wèi)星通信/全球衛(wèi)星導航系統(tǒng)(GNSS)、雷達、4G/MSR、DPD和FPGA硬件回路的設計專用軟件。

網(wǎng)絡分析--安捷倫測試解決方案讓工程師透過單一鏈接，即可同時連接多個HDMI和WiGig組件，以便加速進行測量。該毫米波解決方案采用PNA-X網(wǎng)絡分析儀，可通過一個鏈路連接待測組件，以便描述發(fā)射/接收系統(tǒng)的特性。

Agilent FieldFox手持式分析儀提供遠程式控制功能和新的Remote Viewer iOS應用程序，方便用戶透過iPad或iPhone進行精確的射頻和微波測量。此外，為協(xié)助工程師有效測試雷達系統(tǒng)之脈沖特性，F(xiàn)ieldFox特別新增了頻譜分析時閘(Time-gating)選項，以及USB峰值功率傳感器支持。

Agilent 8507xE.07系列軟件可以輕易測量電磁材料的特性。新的直覺式操作接口增加了更多條軌跡、多個圖表、先進的軌跡數(shù)學運算和標記功能，讓用戶能以前所未見的簡易方式，分析大量的數(shù)據(jù)。