氮化鎵(GaN) 功率放大器(PA) 設(shè)計(jì)是當(dāng)前的熱門(mén)話題。出于多種原因,GaN HEMT 器件已成為滿足大多數(shù)新型微波功率放大器需求的領(lǐng)先解決方案。
過(guò)去,PA 設(shè)計(jì)以大致的起點(diǎn)開(kāi)始并運(yùn)用大量的“大師”知識(shí)來(lái)完成,使用測(cè)得的負(fù)載牽引數(shù)據(jù)可以提高PA設(shè)計(jì)的成功率,但不一定能夠獲得所需應(yīng)用頻率下的負(fù)載牽引數(shù)據(jù)。而使用精確的非線性模型可以更快地生成設(shè)計(jì)數(shù)據(jù),關(guān)注更精確的PA 行為,并獲得更好的結(jié)果。
本文中,我們將為您介紹需要了解的非線性GaN 模型的基礎(chǔ)知識(shí)。
什么是非線性GaN 模型?
對(duì)許多工程師來(lái)說(shuō),設(shè)計(jì)PA 的第一步是閱讀晶體管產(chǎn)品的數(shù)據(jù)手冊(cè)并查看S 參數(shù)。S 參數(shù)文件很有用,但有關(guān)器件大信號(hào)運(yùn)行的信息不夠充分。此外,PA 設(shè)計(jì)工程師可以利用測(cè)得的負(fù)載牽引數(shù)據(jù)確定最佳負(fù)載阻抗目標(biāo)值,以便在指定頻率下實(shí)現(xiàn)最佳功率和效率。
然而,設(shè)計(jì)人員通過(guò)仿真模型使用負(fù)載牽引數(shù)據(jù)還可以做得更多。具體來(lái)說(shuō),通過(guò)正確選取的非線性模型,設(shè)計(jì)人員可以:
· 確定最佳負(fù)載和源阻抗目標(biāo)值,以優(yōu)化任何線性或非線性性能目標(biāo)。而且可以在模型有效頻率范圍內(nèi)的任何頻率下快速完成。· 仿真最大工作限值。
· 平衡PA 設(shè)計(jì)人員面臨的極具挑戰(zhàn)性的線性度、功率、帶寬和效率目標(biāo)。
· 加快設(shè)計(jì)流程,有助于第一次就獲得正確的設(shè)計(jì)。
· 降低產(chǎn)品開(kāi)發(fā)成本。
過(guò)去幾年來(lái),Modelithics 與Qorvo 密切合作,開(kāi)發(fā)出廣泛的非線性模型庫(kù),現(xiàn)涵蓋70 多款裸片和封裝形式的Qorvo GaN 晶體管。這些模型有助于PA 設(shè)計(jì)人員準(zhǔn)確預(yù)測(cè)設(shè)計(jì)中集成的晶體管性能。Modelithics 的仿真模型與最新的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA) 仿真工具無(wú)縫集成,包括National Instruments 的NI AWR 設(shè)計(jì)環(huán)境 和Keysight Technologies 的高級(jí)設(shè)計(jì)系統(tǒng)(ADS)。
下圖顯示如何使用仿真模型創(chuàng)建PA 設(shè)計(jì)。Qorvo 和Modelithics 使用精選模型來(lái)生成PA 參考設(shè)計(jì),然后,我們制造、測(cè)試和記錄這些設(shè)計(jì),以說(shuō)明模型準(zhǔn)確性和對(duì)設(shè)計(jì)應(yīng)用的實(shí)用性,以及PA 電路級(jí)的各個(gè)GaN 器件功能。
Modelithics 的非線性GaN 模型都具有設(shè)計(jì)功能,包括可變偏置、溫標(biāo)、自熱效應(yīng)、固有電流-電壓(I-V) 感應(yīng)和焊線設(shè)置(若適用)。
捕獲I-V 曲線
在最基本的層面上,非線性GaN 模型必須捕獲晶體管在不同工作電平下的電流-電壓特性曲線,即I-V 曲線。晶體管的I-V 特性決定了器件的基本功耗、效率和其他主要性能驅(qū)動(dòng)因素。
從本質(zhì)上來(lái)說(shuō),I-V 曲線是漏極-源極電流(I) 與漏極-源極電壓(V) 之間的關(guān)系圖,用不同的柵極-源極電壓參數(shù)來(lái)表示,高端電壓限值由擊穿電壓設(shè)定,電流限值由最大電流設(shè)定。通用I-V 曲線參見(jiàn)下圖。
進(jìn)行PA 設(shè)計(jì)時(shí),正確選取的模型必須要捕獲這些I-V 曲線的邊界,以及在小信號(hào)和大信號(hào)運(yùn)行條件下正確表示直流和動(dòng)態(tài)射頻行為所需的許多其他特性。
模型中有什么?
一個(gè)模型預(yù)測(cè)PA 晶體管非線性行為的能力主要基于幾個(gè)方面:
· 電壓依賴性電流源(Ids) 的表示· 電壓依賴性電容(主要是柵極-源極Cgd 和漏極-源極Cgs)
· 電壓依賴性二極管模型,與擊穿電壓的預(yù)測(cè)相關(guān)
· 寄生電感、電容和電阻,代表器件的總體頻率依賴性行為
Modelithics Qorvo GaN 庫(kù)中均為基于Chalmers-Angelov 模型的定制模型。下圖顯示了基本模型的拓?fù)洌c小信號(hào)模型一樣,包含在頻率范圍內(nèi)擬合S 參數(shù)數(shù)據(jù)所需的所有元件。該建模框架也可用來(lái)擬合低噪聲、高功率應(yīng)用的噪聲參數(shù)。
上圖還顯示了Modelithics Qorvo GaN 模型中常見(jiàn)的幾個(gè)典型符號(hào):
· 溫度:器件運(yùn)行的環(huán)境溫度。· BWremoval:焊線去嵌入開(kāi)關(guān)。
· 自熱參數(shù):通過(guò)該參數(shù),模型能夠估計(jì)脈沖信號(hào)與連續(xù)波(CW) 信號(hào)輸入等引起的自熱變化。該參數(shù)設(shè)置為脈沖信號(hào)的占空比。
· VDSQ:有些模型具有VdsQ 輸入,可用來(lái)調(diào)節(jié)預(yù)期工作電壓(例如,在12 V 至28 V 范圍內(nèi)),這可看作是一個(gè)可擴(kuò)展模型最佳切入點(diǎn)。
您還可以在模型的信息數(shù)據(jù)手冊(cè)中查看各個(gè)Modelithics 模型的功能,可雙擊仿真器中的模型,然后單擊幫助(ADS) 或供應(yīng)商幫助(AWR) 按鈕獲得。
GaN 設(shè)計(jì)中散熱的重要性
GaN 成為最熱門(mén)的PA 晶體管技術(shù)之一源于三個(gè)主要屬性:
1、高擊穿電場(chǎng)(與高擊穿電壓有關(guān))2、高飽和速度(與較高的最大電流Imax 有關(guān))
3、出色的熱屬性
但是,實(shí)現(xiàn)更高功率也帶來(lái)一個(gè)后果:
· 更高功率意味著更高的直流功率。· 任何未轉(zhuǎn)換為射頻輸出功率的直流加載電源將作為熱量耗散(除非晶體管的效率為100%)。
· 因此,GaN 晶體管變得非常熱,熱管理成為重要的設(shè)計(jì)考慮因素。幸運(yùn)的是,碳化硅基氮化鎵(GaN on SiC) 能夠更好地處理熱量,其熱導(dǎo)率高達(dá)5 W-cm-1K-1(與硅的1 W-cm-1K-1相比)。
但對(duì)于PA 電路級(jí),這意味著設(shè)計(jì)人員必須在考慮所有其他設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)的同時(shí)考慮散熱問(wèn)題,而GaN 模型可以提供幫助。從建模角度來(lái)看,所有Modelithics Qorvo GaN 模型都內(nèi)置環(huán)境溫度和自熱效應(yīng)。某些模型還具有通道溫度感應(yīng)節(jié)點(diǎn),允許設(shè)計(jì)人員在射頻設(shè)計(jì)階段監(jiān)測(cè)預(yù)估的通道溫度。