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射頻功率晶體管耐用性的驗證
本文將介紹一些最新的耐用型大功率LDMOS晶體管以及它們的電氣特性,并通過比較測試過程來判斷它們的耐用水平。
發(fā)布時間:2013-08-20關(guān)鍵詞:射頻功率晶體管 -
射頻功率放大器的熱測量方法
這篇文章闡述了一種被飛思卡爾使用的高功率射頻功放的熱測量方法。半導體器件的可靠性和器件的使用溫度有很大的關(guān)系,因此,建立使用了高功率器件的系統(tǒng)的可靠性模型,這...
發(fā)布時間:2013-08-12關(guān)鍵詞:功率放大器