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從半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試撬動(dòng)更廣泛應(yīng)用場(chǎng)景,ADI多款創(chuàng)新方案樹(shù)立電子測(cè)試測(cè)量技術(shù)標(biāo)桿
發(fā)布時(shí)間:2024-08-28關(guān)鍵詞:ADI -
隔離式狀態(tài)監(jiān)控通道之間的相位匹配:DAQ μModule應(yīng)用
能夠同時(shí)通過(guò)多個(gè)傳感器捕獲數(shù)據(jù)的狀態(tài)監(jiān)控系統(tǒng),通常使用通道間隔離解決方案來(lái)消除接地環(huán)路。
發(fā)布時(shí)間:2024-08-13關(guān)鍵詞:ADI