ADI（亞德諾半導(dǎo)體）高級系統(tǒng)應(yīng)用工程師Rob Reeder：“當(dāng)然，這是必須考慮的”。

串?dāng)_可能來自幾種途徑

從印刷電路板(PCB)的一條信號鏈到另一條信號鏈，從IC中的一個(gè)通道到另一個(gè)通道，或者是通過電源時(shí)產(chǎn)生。理解串?dāng)_的關(guān)鍵在于找出其來源及表現(xiàn)形式，是來自相鄰的轉(zhuǎn)換器、另一個(gè)信號鏈通道，還是PCB設(shè)計(jì)？

三種串?dāng)_測試方式

第一種

最典型的串?dāng)_測試稱為相鄰串?dāng)_。這種串?dāng)_的表現(xiàn)形式是，當(dāng)某個(gè)通道被以滿量程或接近滿量程驅(qū)動(dòng)時(shí)，“被觀察”的通道或信號鏈處于開放狀態(tài)，即無信號注入。測量輸出頻譜時(shí)，可以在開放通道上觀察到高于本底噪聲的雜散。這種串?dāng)_定義了開放的受體通道和被驅(qū)動(dòng)的干擾源通道之間的隔離。

有時(shí)，開放通道具有足夠的魯棒性，可以抑制來自一個(gè)被驅(qū)動(dòng)通道的交叉耦合，但這只是一部分的抗串?dāng)_能力。

第二種

另一種串?dāng)_測試是以相同的頻率驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中除一個(gè)通道外的其他所有通道，剩余的一個(gè)通道保持開放狀態(tài)。此時(shí)，所有干擾源的強(qiáng)度都通過開放通道來測量。

第三種

測量串?dāng)_的第三種方法是以不同的頻率和信號強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)兩個(gè)或兩個(gè)以上的通道，通過測試開放通道，觀察是否有被驅(qū)動(dòng)通道產(chǎn)生的交叉耦合混頻產(chǎn)物的泄漏。此時(shí)，通過混頻效應(yīng)，可以看到干擾源信號如何回落至目標(biāo)頻帶。

最后，這三種測量方法都可以在輸入信號超量程(超過器件或信號鏈的滿量程)的情況下重復(fù)進(jìn)行，有助于確定輸入信號被鉗位或通道飽和時(shí)開放通道的魯棒性。

↑ 上述測試均應(yīng)涵蓋應(yīng)用的整個(gè)目標(biāo)信號范圍和頻率范圍，因?yàn)榇當(dāng)_有時(shí)會(huì)由PCB 設(shè)計(jì)不佳而引起，或在特定的工作條件下表現(xiàn)出來。更換器件沒有什么幫助，轉(zhuǎn)換器或多通道器件必須經(jīng)過全面測試，以確保足夠的魯棒性，從而滿足您的應(yīng)用。

作者：Rob Reeder，ADI高級系統(tǒng)應(yīng)用工程師

作者簡介

Rob Reeder是ADI公司（美國北卡羅來納州格林斯博羅）工業(yè)與儀器儀表部門高級系統(tǒng)應(yīng)用工程師，負(fù)責(zé)防務(wù)和航空航天應(yīng)用，發(fā)表了大量有關(guān)各種應(yīng)用的轉(zhuǎn)換器接口、轉(zhuǎn)換器測試和模擬信號鏈設(shè)計(jì)的論文。Rob曾在高速轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品線上擔(dān)任應(yīng)用工程師8年之久。在此之前，Rob還擔(dān)任過ADI多芯片產(chǎn)品業(yè)務(wù)的測試開發(fā)和模擬設(shè)計(jì)工程師，擁有5年的太空、防務(wù)和高度可靠的應(yīng)用模擬信號鏈模塊設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)。Rob于1996年和1998年分別獲得北伊利諾斯州大學(xué)（迪卡爾布市）的電子工程學(xué)士（BSEE）學(xué)位和電子工程碩士（MSEE）學(xué)位。