在通信及電子技術(shù)日益發(fā)展的今天，所有的系統(tǒng)依舊由各種元器件組成。多種多樣的元器件仍然在各個(gè)行業(yè)扮演著發(fā)展基石的角色。這個(gè)角色不可或缺，而又多種多樣。

針對當(dāng)今豐富的器件測試需求和挑戰(zhàn)，如何完成器件的性能鑒定直接影響著未來整個(gè)系統(tǒng)的性能與穩(wěn)定。

今天我們將會(huì)針對器件測試的各種挑戰(zhàn)為您做詳細(xì)解讀。每一個(gè)專題文后均提供詳細(xì)的文檔下載，都是滿滿的干貨喲！

1、有源器件測試

我們先來說一下最常見的有源器件測試。在這一部分，被測件通常是是放大器，混頻器或變頻器。

憑借超高的集成度和靈活的硬件結(jié)構(gòu)，Keysight的當(dāng)紅小生PNA-B系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可憑借一己之力取代以往復(fù)雜的測試機(jī)柜，單槍匹馬完成以下這些復(fù)雜測試，著實(shí)一個(gè)‘戲精’的存在，Keysight資深工程師們都打心眼里佩服它呢，太會(huì)搶戲了！它有的殺手锏如下：

> 脈沖測試	> 雙音互調(diào)失真測試
> 噪聲系數(shù)測試	> 元器件多通道頻譜表征
> 增益測試	> 差分和IQ器件測試
> 增益壓縮測試	> 自動(dòng)夾具移除
> 群時(shí)延測試	> 非線性測試

2、毫米波太赫茲器件測試

毫米波太赫茲器件測試是行業(yè)內(nèi)成長最快的新銳力量，隨著5G技術(shù)的普及，汽車?yán)走_(dá)的廣泛應(yīng)用，以及太赫茲成像等先進(jìn)技術(shù)的快速商用進(jìn)程，毫米波器件的應(yīng)用越來越廣泛。

Keysight N5290A/91A寬帶單次掃描解決方案支持900Hz-120GHz頻率覆蓋范圍，配合擴(kuò)頻模塊，可以達(dá)到高達(dá)1.5THz的頻率覆蓋。最最重要的事情，千萬不要忘記這套系統(tǒng)的測試引擎可是剛剛介紹過的那個(gè)戲精PNA-B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。

所以，即使是在毫米波和太赫茲領(lǐng)域，除了它最擅長的S參數(shù)測試以外，還能幫助工程師完成：

· 毫米波頻譜分析
· 在毫米波頻率范圍內(nèi)進(jìn)行真正的差分和I/Q器件測量
· 毫米波范圍的多通道測試
· 毫米波頻段混頻器和變頻器損耗，增益及輸入輸出匹配測試

3、晶圓測試

晶圓測試在炙手可熱的半導(dǎo)體行業(yè)里也扮演著至關(guān)重要的角色。對于器件建模，技術(shù)開發(fā)，半導(dǎo)體工藝開發(fā)和規(guī)范，過程控制，元器件定標(biāo)和試生產(chǎn)來說，精確的和可重復(fù)的晶圓級測量必不可少。

為了減少用戶在配置系統(tǒng)上所消耗的時(shí)間，Keysight和Cascade Microtech 建立了全球統(tǒng)一的全新服務(wù)模式，使用Keysight測試儀器及測試軟件Cascade Microtech晶圓級探針臺及附件等提供了一系列完全綜合的元器件測量和器件表征解決方案。

該方案在業(yè)界樹立的全新服務(wù)及技術(shù)支持模式，我們稱之為WMS（Wafer-level Measurement Solution Program）,可以為半導(dǎo)體用戶提供有保證的配置，安全和全面的技術(shù)支持：

· 精確可重復(fù)的晶圓級測量
· 單次連接，多次測量，保證晶圓的出品率
· 與Cascade Mirotech一起為用戶提供有保證的系統(tǒng)配置
· 首次測量時(shí)間最短

4、無源器件測試

無源器件在電子行業(yè)中用量大、普及廣、成本低。

在中國制造高速成長的幾十年間，得到的真理就是高可靠性、穩(wěn)定性和重復(fù)性的產(chǎn)線測試解決方案即是最有效的成本控制手段。

作為行業(yè)旗艦和標(biāo)準(zhǔn)的ENA經(jīng)濟(jì)型網(wǎng)絡(luò)分析儀在大規(guī)模生產(chǎn)環(huán)境下已經(jīng)被驗(yàn)證，并且成為了業(yè)界的典范。

針對大量多端口器件的研發(fā)生產(chǎn)，復(fù)雜的市場環(huán)境，多變的產(chǎn)品，動(dòng)態(tài)變化的出貨量，處處是挑戰(zhàn)。為了幫助用戶靈活應(yīng)對，模塊化矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)運(yùn)而生。關(guān)鍵能力包括：

· 高可靠性的典范性能
· 端口數(shù)量靈活配置
· 測試站點(diǎn)靈活調(diào)整
· 多端口器件的一次性測試
· 高達(dá)32端口的全交叉校準(zhǔn)和測量

5、材料測試

隨著各種先進(jìn)技術(shù)的快速發(fā)展，作為真正的基礎(chǔ)學(xué)科的材料科學(xué)近兩年來受到更多的重視。

面對豐富奇葩五花八門的各種待測材料，大到電子行業(yè)中的方方面面的材料，如常用天線材料，航空領(lǐng)域材料需求，家電行業(yè)中材料需求，小到我們?nèi)粘Ｉ钪械乃墒於群秃橇浚@些都統(tǒng)統(tǒng)離不開材料測試。

在這個(gè)領(lǐng)域，Keysight也絕對不會(huì)手軟哈！用Keysight網(wǎng)絡(luò)分析儀和最新的材料測試軟件N1500A將會(huì)為您提供最完善的材料測試的功能。要知道N1500A是業(yè)界最權(quán)威的材料測試工具呢！

· 介電常數(shù)和磁導(dǎo)率的自動(dòng)化測試功能
· 靈活配置的測量方法支持傳輸線法，拱形反射率，諧振腔法，同軸探頭法，自由空間法等
· 豐富的測試夾具支持能力

6、便攜式綜測儀讓您隨時(shí)隨地精確測量

在外場怎么辦？請您帶上一只 ”野外小狐貍”，別看它小小一只，其實(shí)什么都能做。Fieldfox N995X便攜式射頻微波綜合分析儀是您在外場不可或缺的小幫手。下面這些工作，它全都能幫到您呢！

> 頻率高達(dá)50GHz	> 時(shí)域測試
> 電纜天線測試	> 頻譜分析
> 雷達(dá)安裝與維護(hù)	> 內(nèi)置功率計(jì)
> 衛(wèi)星地面站安裝與維護(hù)	> 矢量電壓表
> 電纜斷點(diǎn)分析	> 脈沖測量
> S參數(shù)測試	> 實(shí)時(shí)頻譜分析(RTSA)

7、信號完整性

您知道矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以幫您完成信號完整性的測試嗎？

針對于越來越高的數(shù)據(jù)速率，使用網(wǎng)絡(luò)分析儀作為核心結(jié)合物理層測試軟件PLTS的情景越來越多，他們的完美結(jié)合可以完成下列的測試功能。此外，靈活多變的多端口器件處理小能手PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與PLTS結(jié)合，會(huì)擦出更多的火花呢！

比如，構(gòu)建高達(dá)32端口的高速電纜、背板的完整時(shí)域、頻域特性的一致性測試系統(tǒng)。測量單條Mini-SAS電纜的總測試時(shí)間只需要十幾秒鐘。PLTS的主要功能：

· 接插件、背板的時(shí)域和頻域特性
· 頻域包括回波損耗、插入損耗、模式轉(zhuǎn)換、近端串?dāng)_、遠(yuǎn)端串?dāng)_等
· 時(shí)域包括連接器和電纜、走線的阻抗，電時(shí)延、對內(nèi)時(shí)延差和對間時(shí)延差等
· 眼圖和眼圖模板測試
· 時(shí)域和頻域、眼圖指標(biāo)的一致性測試
· 支持COM測試和PAM4眼圖仿真
· 使用PLTS的自動(dòng)夾具移除AFR功能可以很方便地提取夾具效應(yīng)并做去嵌入，從而得到被測件真實(shí)的特性
· 差分TRL校準(zhǔn)功能，可以提取差分夾具的串?dāng)_效應(yīng)，從而得到更加精確的結(jié)果

看了這么多滿滿的干貨之后，我們知道一臺好的矢網(wǎng)確實(shí)能夠讓您事半功倍。當(dāng)然好馬配好鞍，好的矢網(wǎng)永遠(yuǎn)離不開好的校準(zhǔn)件的搭配。

每天使用電子校準(zhǔn)件對矢網(wǎng)進(jìn)行校準(zhǔn)能夠達(dá)到類似于為電子秤歸零的作用，這樣才能更快速、輕松、精確地使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行測量。然而您是否有好好關(guān)心保養(yǎng)它呢？

電子校準(zhǔn)件是從根本上來說是一種非常穩(wěn)定的器件。如果連接、儲存和處理方法正確的話，電子校準(zhǔn)件在校準(zhǔn)周期內(nèi)使用時(shí)可以達(dá)到保證的技術(shù)指標(biāo)。但是極端的環(huán)境、過大的輸入和不正確的處理方法都會(huì)降低其穩(wěn)定性和可重復(fù)性。最終連接器損壞可能會(huì)顯著影響測量精度。

重~點(diǎn)~來~了~

產(chǎn)生這些OOT(校準(zhǔn)超差)的原因，一個(gè)是電子校準(zhǔn)件內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生了變化，另一個(gè)是不正確的處理方式導(dǎo)致連接器受到損壞。

· 內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)

電子校準(zhǔn)件阻抗標(biāo)準(zhǔn)件的特征受老化率、漂移等因素的影響會(huì)發(fā)生變化。為了達(dá)到電子校準(zhǔn)件的性能技術(shù)指標(biāo)，必須定期更新電子校準(zhǔn)件內(nèi)置存儲器中保存的阻抗標(biāo)準(zhǔn)件S參數(shù)數(shù)據(jù)。

· 連接方式

有缺陷或受到損壞的連接器會(huì)降低電子校準(zhǔn)件的性能，進(jìn)而影響您的測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。下圖顯示了完好連接器與受損連接器的對比示例。