電子校準件是從根本上來說是一種非常穩(wěn)定的器件。如果連接、儲存和處理方法正確的話，電子校準件在校準周期內(nèi)使用時可以達到保證的技術(shù)指標。但是極端的環(huán)境、過大的輸入和不正確的處理方法都會降低其穩(wěn)定性和可重復(fù)性。連接器損壞可能會顯著影響測量精度。

隨著校準周期的延長

電子校準件超差（OOT）現(xiàn)象越來越多

下面是是德科技通過分析客戶的2000個電子校準件之后得到的案例分析結(jié)果：超過三年沒有經(jīng)過校準的電子校準件與每12個月校準一次的電子校準件相比，OOT比率高3倍。

VNA測量結(jié)果

開始變得不準確

史密斯圓圖顯示了處于容限范圍內(nèi)外的電子校準件

上圖顯示了已經(jīng)出現(xiàn)超差(OOT)的電子校準件對VNA測量結(jié)果的影響。藍色曲線表示使用正常的電子校準件獲得的測量結(jié)果。橙色曲線表示使用已經(jīng)出現(xiàn)超差的電子校準件獲得的測量結(jié)果。這個已經(jīng)出現(xiàn)超差的電子校準件存在連接器缺陷，而且五年沒有經(jīng)過校準。注意，橙色曲線發(fā)生位移，而且有一部分超出了史密斯圓圖。如果您的VNA使用這個電子校準件，那么測量結(jié)果會出現(xiàn)明顯的誤差。

重點來了！

產(chǎn)生這些OOT(校準超差)的原因，一個是電子校準件內(nèi)部標準發(fā)生了變化，另一個是不正確的處理方式導(dǎo)致連接器受到損壞。

· 內(nèi)部標準：電子校準件阻抗標準件的特征受老化率、漂移等因素的影響會發(fā)生變化。為了達到電子校準件的性能技術(shù)指標，必須定期更新電子校準件內(nèi)置存儲器中保存的阻抗標準件S參數(shù)數(shù)據(jù)。

· 連接方式：有缺陷或受到損壞的連接器會降低電子校準件的性能，進而影響您的測量結(jié)果的準確性。下圖顯示了完好連接器與受損連接器的對比示例。

該怎么辦？

我們?nèi)绾蔚弥娮有始膶嶋H性能？

· 堅持每12 個月校準一次電子校準件

定期更新電子校準件內(nèi)置存儲器中保存的阻抗標準件S 參數(shù)數(shù)據(jù)。在校準服務(wù)期間，原廠技術(shù)人員還會用肉眼、借助機械、以及使用電子工具來檢查連接器，然后清潔連接器。