CMOS超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)(第四版)(英文版)
定價(jià): | ¥ 89 | ||
作者: | (美)韋斯特,(美)哈里斯 著 | ||
出版: | 電子工業(yè)出版社 | ||
書(shū)號(hào): | 9787121141447 | ||
語(yǔ)言: | 簡(jiǎn)體中文 | ||
日期: | 2011-08-01 | ||
版次: | 1 | 頁(yè)數(shù): | 751 |
開(kāi)本: | 16開(kāi) | 查看: | 0次 |

服務(wù)商城 | 客服電話(huà) | 配送服務(wù) | 優(yōu)惠價(jià) | 購(gòu)買(mǎi) |
![]() | 400-711-6699 | 滿(mǎn)29至69元,免運(yùn)費(fèi)! | ¥68.1 | ![]() |
這本由美國(guó)的Neil H.E. Weste和David MoneyHarris所著的《CMOS超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)(第4版英文版)》是本經(jīng)典教材,該版本反映了近年來(lái)集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域面貌的迅速變化,突出了延時(shí)、功耗、互連和魯棒性等關(guān)鍵因素的影響。內(nèi)容涵蓋了從系統(tǒng)級(jí)到電路級(jí)的CMOSVLSI設(shè)計(jì)方法,介紹了CMOS集成電路的基本原理,設(shè)計(jì)的基本問(wèn)題,基本電路和子系統(tǒng)的設(shè)計(jì),以及CMOS系統(tǒng)的設(shè)計(jì)實(shí)例(包括一系列當(dāng)前設(shè)計(jì)方法和CMOS的特有問(wèn)題,以及測(cè)試、可測(cè)性設(shè)計(jì)和調(diào)試等技術(shù))。全書(shū)加強(qiáng)了對(duì)業(yè)界積累的許多寶貴設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)的介紹。
《CMOS超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)(第4版英文版)》可作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)、微電子學(xué)與固體電子學(xué)、集成電路工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、自動(dòng)化、汽車(chē)電子以及精密儀器制造等專(zhuān)業(yè)的本科生和研究生在cMOs集成電路設(shè)計(jì)方面的教科書(shū),并可作為從事集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域研究和技術(shù)工作的工程技術(shù)人員和高等院校教師的常備參考書(shū)。
《CMOS超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)(第4版英文版)》可作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)、微電子學(xué)與固體電子學(xué)、集成電路工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、自動(dòng)化、汽車(chē)電子以及精密儀器制造等專(zhuān)業(yè)的本科生和研究生在cMOs集成電路設(shè)計(jì)方面的教科書(shū),并可作為從事集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域研究和技術(shù)工作的工程技術(shù)人員和高等院校教師的常備參考書(shū)。
Chapter 1 Welcome to VLSI
Chapter 2 Devices
Chapter 3 Speed
Chapter 4 Power
Chapter 5 Wires
Chapter 6 Scaling, Reliability, and Variability
Chapter 7 SPICE
Chapter 8 Gates
Chapter 9 Sequencing
Chapter 10 Datapaths
Chapter 11 Memories
Chapter 12 Packaging, Power, Clock, I/O
Chapter 13 Methodology
Chapter 14 Test
Chapter 15 Fabrication
References
Index
Credits
Chapter 2 Devices
Chapter 3 Speed
Chapter 4 Power
Chapter 5 Wires
Chapter 6 Scaling, Reliability, and Variability
Chapter 7 SPICE
Chapter 8 Gates
Chapter 9 Sequencing
Chapter 10 Datapaths
Chapter 11 Memories
Chapter 12 Packaging, Power, Clock, I/O
Chapter 13 Methodology
Chapter 14 Test
Chapter 15 Fabrication
References
Index
Credits