會議簡介：

在自動駕駛的測試過程中，其中繞不開的一項是C-V2X測試，如何在路測前保證OBU功能的安全性，可靠性成為了一項難題，C-V2X HIL測試系統正好滿足這項測試需求，本次研討會將圍繞C-V2X HIL測試講解目前的技術趨勢，挑戰，并展示測試系統的功能。

您將通過本次研討會了解到：

1. C-V2X技術趨勢以及測試挑戰
2. C-V2X HIL測試系統架構以及功能介紹
3. C-V2X HIL測試系統demo展示

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