半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷日前宣布，日本沖電氣工業(yè)株式會(huì)社OKI已選用惠瑞捷Port Scale射頻測(cè)試解決方案以測(cè)試其高集成度無線通信芯片。OKI的芯片目前已被消費(fèi)電子制造商廣泛地應(yīng)用于各種終端產(chǎn)品的制造當(dāng)中，其中包括：機(jī)頂盒，手機(jī)，掌上電腦和其它無線產(chǎn)品等等。OKI亦利用其在封裝技術(shù)方面的優(yōu)勢(shì)向其它制造商提供封裝與測(cè)試服務(wù)，而Port Scale射頻測(cè)試方案將為OKI的測(cè)試服務(wù)業(yè)務(wù)進(jìn)一步提供更多價(jià)值。惠瑞捷Port Scale射頻測(cè)試解決方案憑借其獨(dú)到的性能、具有優(yōu)勢(shì)的測(cè)試成本、v93000平臺(tái)的可*性和可擴(kuò)展性以及遍布全球的高質(zhì)量應(yīng)用測(cè)試服務(wù)支持最終獲得OKI的青睞，在眾多候選方案中脫穎而出。

　　OKI是第一批采用惠瑞捷Port Scale射頻測(cè)試解決方案的公司之一，惠瑞捷的Port Scale射頻測(cè)試解決方案的推出符合市場(chǎng)迅速增長(zhǎng)的需求。目前十大射頻半導(dǎo)體供應(yīng)商中有八家正以Port Scale射頻方案開發(fā)并超過25種各類產(chǎn)品，準(zhǔn)備在未來數(shù)月內(nèi)投入量產(chǎn)。這些芯片包括含當(dāng)今最具有挑戰(zhàn)性的3G和4G技術(shù)，如UWB和WiMAX技術(shù)，藍(lán)牙，GPS導(dǎo)航以及ZigBee等。

　　“為了繼續(xù)向我們的客戶提供最佳質(zhì)量的芯片以幫助他們滿足當(dāng)今復(fù)雜高速無線通信的應(yīng)用需求，我們需要一個(gè)可*性高，測(cè)試成本更低且能有效加快量產(chǎn)化速度的測(cè)試解決方案。” OKI株式會(huì)社ATP制造部門總經(jīng)理Katsumi Onaru先生表示：“Port Scale 射頻測(cè)試解決方案很好地為滿足了我們對(duì)于性能，成本和支持的要求，令我們?cè)谶@些領(lǐng)域都能夠從容應(yīng)付挑戰(zhàn)。v93000平臺(tái)固有的靈活性意味著它同樣能滿足我們的客戶對(duì)于未來下一代設(shè)備的需求”。

　　“憑借Port Scale射頻測(cè)試解決方案，惠瑞捷已經(jīng)率先帶來了業(yè)內(nèi)第一套整合探頭的多端口測(cè)試方案，以此為高集成度射頻設(shè)備提供高性價(jià)比的測(cè)試。”。惠瑞捷半導(dǎo)體科技公司業(yè)務(wù)與服務(wù)支持副總裁Pascal Ronde指出：“我們很高興OKI選用了已被許多其它公司采用并一致認(rèn)可的Port Scale 射頻測(cè)試解決方案，在這些公司的共同推動(dòng)之下，Port Scale將能迅速成為測(cè)試包括最新的3G和4G技術(shù)在內(nèi)的全范圍復(fù)雜射頻系統(tǒng)芯片和射頻系統(tǒng)級(jí)封裝的新標(biāo)準(zhǔn)。”

　　關(guān)于惠瑞捷Port Scale 射頻測(cè)試解決方案

　　基于v93000 soc測(cè)試平臺(tái)的Port Scale射頻測(cè)試解決方案提供了經(jīng)濟(jì)，有效且可*的射頻測(cè)量能力，這一全能型測(cè)量平臺(tái)能夠?qū)τ趦?nèi)含整合射頻、混合信號(hào)、數(shù)字、電源管理、以及嵌入式或堆疊式內(nèi)存的各類最新的高集成度芯片實(shí)施測(cè)量。而Port Scale射頻解決方案是目前唯一能夠滿足3G，4G以及高集成度射頻設(shè)備對(duì)于高容量、多點(diǎn)并行測(cè)試要求的方案，同時(shí)也是這些產(chǎn)品進(jìn)行量產(chǎn)可行性測(cè)試必不可少的平臺(tái)。

　　解決方案包括：

　　——具有領(lǐng)先的高效率的多點(diǎn)并行測(cè)試能力的高產(chǎn)量射頻測(cè)量?jī)x器

　　——業(yè)已證實(shí)的性能，可重復(fù)性和穩(wěn)定性，所有這些均能改善芯片成品率和測(cè)試質(zhì)量

　　——可擴(kuò)展，并行測(cè)試