報(bào)告顯示，預(yù)計(jì)2013年全球LTE用戶將達(dá)到1.4億，2017年將達(dá)到9.2億。而TD-LTE用戶，到2016年將增加到1.5億戶，約占全球LTE用戶總數(shù)25%。在中國市場LTE智能手機(jī)有望在2013年逐步成熟，并在2014年走向大眾市場。

LTE 多頻段下 手機(jī)量產(chǎn)速度面臨挑戰(zhàn)

當(dāng)前終端產(chǎn)品支持的通信協(xié)議越來越多，LTE終端產(chǎn)品的測試項(xiàng)目比2G、3G多出近百項(xiàng)。不僅無線制式在增加，終端支持的頻段也在增加。這對(duì)生產(chǎn)測試提出了更高的要求，測試項(xiàng)目和測試時(shí)間達(dá)以前的數(shù)倍。測試時(shí)間的增加意味著測試成本的提高，促使芯片和終端廠商尋求減少產(chǎn)品測試時(shí)間與儀器投資成本的方法。

圖1 目前智能手機(jī)覆蓋的功能

在生產(chǎn)手機(jī)時(shí)，傳統(tǒng)的信令測試每一臺(tái)手機(jī)都必須通過驗(yàn)證測試以及檢驗(yàn)，非常耗費(fèi)時(shí)間。受于成本壓力，目前這類測試流程將逐漸從傳統(tǒng)的信令測試，轉(zhuǎn)型成非信令測試，再進(jìn)一步轉(zhuǎn)變成快速序列非信令測試。根據(jù)多家廠商的數(shù)據(jù)，非信令生產(chǎn)測試時(shí)間可加快50%以上，相信未來手機(jī)生產(chǎn)測試模式將大舉從信令(Signaling)轉(zhuǎn)變至非信令(Non-signaling)。

圖2 信令測試、非信令測試、快速序列非信令測試對(duì)比圖

幫助終端制造商提升測試效率、降低測試成本，一直是測試與測量廠商追求的目標(biāo)。微波射頻網(wǎng)最近專訪了多家測試測量廠商，就非信令測試技術(shù)及趨勢進(jìn)行了廣泛的交流。

終端產(chǎn)品產(chǎn)測復(fù)雜化催生非信令測試

“盡管要市場完全接受非信令產(chǎn)測需要一個(gè)過程，但其一定是這個(gè)行業(yè)的發(fā)展方向。”
---艾法斯（亞洲）有限公司業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理路遙

艾法斯（亞洲）有限公司業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理路遙向微波射頻網(wǎng)介紹道，隨著4G技術(shù)引入多種無線技術(shù)于一身，未來的終端設(shè)備產(chǎn)測將越來越復(fù)雜，客戶面臨著巨大的測試成本壓力。當(dāng)前測試成本最直接的表現(xiàn)就是單機(jī)所需的測試時(shí)間，倘若仍保留信令的產(chǎn)測方式，其成本是客戶無法承受的，這就為引入非信令測試帶來了時(shí)機(jī)。

路遙指出，在Qualcomm的引領(lǐng)下，全球各主流蜂窩移動(dòng)通信芯片廠商均已支持非信令產(chǎn)測模式，包括：Broadcom、Marvell、Mediatek和ST-E等。同時(shí)，幾乎所有的二三線芯片廠商都在積極跟進(jìn)，這一點(diǎn)在LTE技術(shù)上體現(xiàn)的尤為明顯，如：GCT、Sequans、Intel/Infineon和Altair等。而在WIFI、Bluetooth和GPS等移動(dòng)互聯(lián)技術(shù)上，各大廠商早已將非信令模式引入生產(chǎn)環(huán)節(jié)，包括Broadcom、Atheros、TI、Marvell和MTK/Ralink等等。而經(jīng)過幾年來在實(shí)際生產(chǎn)中的不斷檢驗(yàn)與改進(jìn)，非信令技術(shù)已趨于完善。

路遙進(jìn)一步指出，在非信令測試上，儀表廠商也是越來越專注，并開始嘗試提供專門性的解決方案。

作為一家在射頻測試測量領(lǐng)域的專業(yè)公司，艾法斯為生產(chǎn)型客戶提供了非信令測試解決方案--PXI3000，這是一款基于PXI架構(gòu)通用射頻測試平臺(tái)，該平臺(tái)不僅可以完美支持FDD/TDD-LTE相關(guān)的非信令測試，對(duì)其他最新的無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，如802.11ac等，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了全覆蓋。

據(jù)了解，傳統(tǒng)測試測量儀器的功能是單一的，每一臺(tái)儀器只完成特定的功能，如信號(hào)源、頻譜儀和綜測儀等。而基于PXI架構(gòu)的測試儀器則完全不同，它是模塊化的，就如搭積木，用戶可以根據(jù)自己的實(shí)際需要，使用通用的PXI模塊搭建出各類功能豐富的儀器。

路遙表示，艾法斯利用PXI3000系列模塊為客戶預(yù)定制出功能強(qiáng)大、性能優(yōu)異的無線終端生產(chǎn)測試解決方案。基于PXI3000搭建的測試方案幾乎可以滿足用戶在無線終端生產(chǎn)環(huán)節(jié)所有的射頻測試需求。這一測試解決方案已經(jīng)得到了全球范圍內(nèi)的大規(guī)模商用，從全球頂級(jí)無線設(shè)備制造商到國內(nèi)中小型手機(jī)廠家均有使用。PXI3000進(jìn)入市場，測試顛覆了傳統(tǒng)的生產(chǎn)測試?yán)砟睿瑯O大地推動(dòng)了生產(chǎn)測試向非信令方式的轉(zhuǎn)型。

最后，路遙強(qiáng)調(diào)，盡管要市場完全接受需要一個(gè)過程，但非信令產(chǎn)測一定是這個(gè)行業(yè)的發(fā)展方向。

多DUT非信令測試提速生產(chǎn)制造流程

“多DUT并行非信令測試解決方案，能夠使終端客戶的效能，投資利用率得到極大地提升”
---萊特波特市場部技術(shù)經(jīng)理馬國華

萊特波特市場部技術(shù)經(jīng)理馬國華表示，如今主流的手機(jī)芯片商都紛紛推廣非信令測試方案，提高各自終端客戶產(chǎn)品的生產(chǎn)制造效能，降低終端產(chǎn)品的制造成本，同時(shí)保持良好地產(chǎn)品質(zhì)量。

馬國華告訴微波射頻網(wǎng)記者，如果采用傳統(tǒng)測試產(chǎn)品和方式，要想提高產(chǎn)出率，制造商只能去添置新測試設(shè)備或增加生產(chǎn)配套。然而，萊特波特為制造商提供了LitePoint IQxstream平臺(tái)，能夠?qū)崿F(xiàn)4臺(tái)DUT（待測設(shè)備）同時(shí)并行測試，可將生產(chǎn)測試吞吐量提升3倍效率。IQxstream可以支持面向4G LTE 和LTE Advanced（超過100Mhz帶寬）所需要的更大帶寬，為生產(chǎn)測試領(lǐng)域長期平滑演進(jìn)的需要提供了堅(jiān)實(shí)的支撐。四部終端并行測試的創(chuàng)新設(shè)計(jì)以及非信令測試技術(shù)的采用，使得廠商可在不縮減測試要求情況下極大地增加產(chǎn)出，不但極大地減少了所需測試儀的數(shù)量，而且也相應(yīng)大大減少了對(duì)于工廠空間和操作員數(shù)量的投入，有效地節(jié)約了成本。

馬國華分析，LTE帶來的挑戰(zhàn)主要來自于兩方面：更大的帶寬和更多的測試時(shí)間。LTE采用20MHz帶寬的數(shù)據(jù)信道，今后隨著LTE-Advanced技術(shù)的引入將擴(kuò)展至100Mhz帶寬的信道。這樣就淘汰了很多不具備足夠帶寬的3G測試儀。LTE可以支持40多個(gè)頻段，這樣支持LTE和WCDMA的多模終端（全球型手機(jī)）將需要支持兩倍于當(dāng)前僅支持3G智能手機(jī)終端所需要的頻段數(shù)量。如此一來，將使得測試手機(jī)所需時(shí)間翻倍，除非有更精良先進(jìn)的測試方案引入。IQxstream可以支持兩套并行的VSA/VSG模塊，可以輕易擴(kuò)展到多DUT的2X2 MIMO測試，以及LTE-A的載波聚合測試。目前LitePoint的IQVector測試解決方案可以覆蓋主流的LTE芯片，并提供產(chǎn)線級(jí)多DUT并行校準(zhǔn)和終測的解決方案。

馬國華補(bǔ)充道，LitePoint在國內(nèi)進(jìn)行IQxstream的推廣經(jīng)驗(yàn)也表明，多DUT并行非信令測試方案是規(guī)模非信令測試的發(fā)展方向。在LitePoint進(jìn)行多DUT非信令測試方案推廣過程中，越來越多的儀表廠商也加入了多DUT并行測試的潮流，紛紛推出對(duì)應(yīng)的測試儀表加入非信令多DUT測試推廣的大潮中。LitePoint堅(jiān)定認(rèn)為，多DUT非信令測試，尤其是有完備測試解決方案的多DUT并行非信令測試解決方案，能夠使終端客戶的效能，投資利用率得到極大地提升。

非信令測試優(yōu)勢明顯  但仍離不開信令模式

“在非信令測試?yán)砟钕氯噪x不開信令模式 ”
---羅德與施瓦茨（R&S）產(chǎn)品支持總監(jiān)金海良

羅德與施瓦茨（R&S）產(chǎn)品支持總監(jiān)金海良表示，手機(jī)生產(chǎn)測試正面臨越來越多的通信制式和頻段與越來越低的銷售價(jià)格之間的矛盾。若要兼顧完整測試項(xiàng)目與成本因素，就得改變產(chǎn)測儀器的使用方式。為此，R&S率先提出了許多提高生產(chǎn)測試效率的理念，如并行測試、快速校準(zhǔn)、快速終測和非信令測試。這些技術(shù)已經(jīng)逐步應(yīng)用到生產(chǎn)測試中。

R&S大約在8、9年前跟一些芯片和手機(jī)廠商合作首次提出了非信令生產(chǎn)測試的概念，2006年R&S率先推出了非信令版本的CMU200（var. 30型號(hào)），并被許多國際手機(jī)廠商采用。正是因?yàn)檫@一點(diǎn)，新一代綜測儀CMW500剛推出時(shí)就全面支持非信令，為了適應(yīng)不同的需求，該儀器既能支持信令也能支持非信令，而且兼顧創(chuàng)新和傳統(tǒng)的測試方法。

金海良解釋，由于在信令模式下測試射頻指標(biāo)比在非信令下耗時(shí)，非信令測試的宗旨是把大量重復(fù)的射頻指標(biāo)測試從信令模式移到非信令模式下測試。傳統(tǒng)的手機(jī)測試分射頻校準(zhǔn)和最終測試兩站，前者在非信令模式下校準(zhǔn)手機(jī)的收發(fā)信機(jī)，后者在信令模式下測試手機(jī)的射頻指標(biāo)。非信令測試?yán)砟钤诋?dāng)中插了一站而變?yōu)槿荆荷漕l校準(zhǔn)、射頻驗(yàn)證和最終測試。射頻指標(biāo)的測試從以往的最終測試站移到新增加的射頻驗(yàn)證站。該站在非信令模式下以更優(yōu)化的測試順序完成以往在信令下的射頻指標(biāo)測試。在產(chǎn)線，射頻校準(zhǔn)和射頻驗(yàn)證可以并成一站，因?yàn)檫@兩站都是基于手機(jī)電路板連接射頻頭進(jìn)行測試。之后電路板被裝配成整機(jī)，再進(jìn)行最終測試。最終測試往往是在信令模式下用天線耦合測試，以模擬真實(shí)網(wǎng)絡(luò)的情況，重點(diǎn)驗(yàn)證信令過程和確保裝配成整機(jī)時(shí)耳麥和天線安裝正常。

值得一提的是，當(dāng)從信令模式轉(zhuǎn)為非信令模式時(shí)，儀器跟芯片廠商的配合會(huì)成為關(guān)鍵點(diǎn)。因?yàn)樵谛帕钅Ｊ较戮C測儀模擬基站與被測手機(jī)建立呼叫后進(jìn)行射頻測試，對(duì)芯片配合的依賴程度低；而在非信令模式下因?yàn)闆]有信令過程因此對(duì)芯片配合的依賴程度很高。CMW500得到了所有LTE芯片廠商的支持，不論采用哪家芯片方案，都能用CMW500進(jìn)行非信令測試。

另外，即便是提倡非信令測試的今天，生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)還是需要信令的。為什么非信令測試?yán)砟钕氯匀浑x不開信令模式？金海良告訴微波射頻網(wǎng)記者，原因是非信令不能完全模擬真實(shí)網(wǎng)絡(luò)的情況。非信令跳過了高層協(xié)議，直接控制手機(jī)的物理層來進(jìn)行收發(fā)信機(jī)測試，不過由于移動(dòng)通信協(xié)議的復(fù)雜性，在實(shí)現(xiàn)的時(shí)候可能產(chǎn)生細(xì)微的差異，因此：

1、 新通信制式的早期生產(chǎn)基本都不采用非信令理念。本來新制式下芯片和終端的成熟穩(wěn)定度就有待驗(yàn)證，況且非信令和信令下終端行為可能有細(xì)微差別，為了穩(wěn)妥起見，新制式下終端生產(chǎn)都采用傳統(tǒng)的兩站式而不用非信令的三站式測試，等后續(xù)產(chǎn)品成熟了再逐漸引入非信令模式。不論是2G、3G還是現(xiàn)在的LTE終端，基本都是采用這一平滑過渡思路。

2、 當(dāng)產(chǎn)品成熟穩(wěn)定后，可以采用非信令的三站式測試，把大量的射頻指標(biāo)測試移到基于非信令的射頻驗(yàn)證站，但是為了檢驗(yàn)出廠的手機(jī)在真實(shí)網(wǎng)絡(luò)下的表現(xiàn)，在第三站最終測試站仍然采用信令模式。

總體來說，非信令測試的三站式理念結(jié)合信令和非信令的優(yōu)勢，把射頻指標(biāo)盡量移到非信令模式下測試，并優(yōu)化測試順序和方法，是在確保產(chǎn)品質(zhì)量的前提下降低成本提高生產(chǎn)效率的好方法，目前已經(jīng)被國內(nèi)外各大手機(jī)廠商所采用。但是需要注意的是，在非信令測試?yán)砟钕拢帕罹C測儀仍然起著不可替代的作用。

非信令測試將逐漸成主流

“產(chǎn)業(yè)鏈的合作是非信令測試成功的先決條件”
---安捷倫電子儀器事業(yè)部高級(jí)市場工程師黃萍

安捷倫電子儀器事業(yè)部高級(jí)市場工程師黃萍在接受微波射頻網(wǎng)專訪時(shí)表示，目前移動(dòng)設(shè)備中的無線功能主要包括2G/3G/LTE、藍(lán)牙、Wi-Fi和GPS。從終端生產(chǎn)測試市場看，為了追求更快的測試速度，芯片廠商不斷更新芯片測試模式，同時(shí)測試設(shè)備廠商與之配合讓手機(jī)的測試模式和綜測儀能協(xié)同工作，從而最終在產(chǎn)線上實(shí)現(xiàn)產(chǎn)能最大化。因此，產(chǎn)業(yè)鏈的合作是非信令測試成功的先決條件。在芯片支持的前提下，非信令測試能夠有效提高測試速率，已經(jīng)成為許多生產(chǎn)制造廠商的必要選擇。這是產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展的必然趨勢。

黃萍解釋，在非信令測試中，待測設(shè)備(DUT)的芯片組在驗(yàn)證測試中會(huì)被要求輸出跨越不同功率等級(jí)和頻率范圍的各種信號(hào)，這些預(yù)定義發(fā)射序列功能可以規(guī)范校準(zhǔn)測試，縮減器件設(shè)置時(shí)間，進(jìn)而縮減測試時(shí)間。

目前安捷倫終端非信令測試產(chǎn)品支持所有2G/3G和LTE的無線蜂窩制式，同時(shí)還可以方便的進(jìn)行GPS的測量。根據(jù)不同的產(chǎn)測需求，安捷倫推出了非信令測試產(chǎn)品E6607 EXT系列，其中包括單機(jī)綜測儀E6607B、多端口測試適配器E6617A，以及最新推出的整合式多端口綜測儀E6607C，不同客戶可根據(jù)其產(chǎn)線的不同配置需求進(jìn)行選擇。

以E6607C EXT-C為例，它內(nèi)置了矢量信號(hào)分析、矢量信號(hào)發(fā)生、高速序列分析功能和 8個(gè)用于無線蜂窩制式的雙向輸入/輸出端口以及 4 個(gè)用于GNSS（全球?qū)Ш叫l(wèi)星系統(tǒng)）測試的輸出端口，由于多端口并行測試裝置已經(jīng)緊湊的集成在儀器內(nèi)部，因此大大省去了繁雜的連接附件和復(fù)雜的連接工作，有效提高測試速率，同時(shí)又能節(jié)省生產(chǎn)線的空間和電力需求。為了在多部終端并行測量時(shí)也獲得高質(zhì)量的非信令測試，儀器內(nèi)部的校準(zhǔn)模塊保證了各端口間的平衡度，動(dòng)態(tài)路損補(bǔ)償功能自動(dòng)消除了全信號(hào)通路和外部測試線纜及夾具給測量帶來的影響，從而保證了測試的準(zhǔn)確性和一致性。

利用安捷倫信號(hào)分析儀的各項(xiàng)豐富的 X 系列測量技術(shù)，EXT系列為客戶提供了專為快速生產(chǎn)制造測試而設(shè)計(jì)的測量應(yīng)用軟件，并針對(duì)最新無線芯片組中實(shí)施的快速序列非信令測試模式，可以與芯片組同步工作，消除信令開銷，實(shí)現(xiàn)單次采集多次測量。

“非信令測試是手機(jī)產(chǎn)業(yè)和測試儀表產(chǎn)業(yè)發(fā)展的必然趨勢”
---上海創(chuàng)遠(yuǎn)儀器副總裁徐逢春

上海創(chuàng)遠(yuǎn)儀器副總裁徐逢春向微波射頻網(wǎng)表示，手機(jī)的非信令測試，是近兩年逐步在產(chǎn)業(yè)界得到推廣的測試技術(shù)，是測試儀表公司和手機(jī)方案公司共同努力的結(jié)果，極大地提升了手機(jī)測試的速度和穩(wěn)定性，提高了生產(chǎn)效率。

為全面支持手機(jī)產(chǎn)業(yè)對(duì)非信令測試的需求，創(chuàng)遠(yuǎn)推出了T6280全制式手機(jī)綜測儀和T6281手機(jī)序列測試接口開關(guān)。T6280全制式終端綜合測試儀支持LTE（TDD/FDD）/WCDMA/TD-SCDMA/GSM等主流通信制式的信令/非信令測試功能，由于采用了業(yè)界領(lǐng)先的分布式系統(tǒng)架構(gòu)，非信令測試速度達(dá)到業(yè)界領(lǐng)先水平。T6280采用專用的自動(dòng)增益控制（AutoScale）技術(shù)，可以在一次測量中對(duì)手機(jī)的整個(gè)動(dòng)態(tài)功率（通常為-65dBm～+27dBm）進(jìn)行自動(dòng)匹配和測量，達(dá)到最優(yōu)化的測試精度和測試速度。

隨著手機(jī)單位測試時(shí)間的降低，手機(jī)生產(chǎn)線上操作員裝卸測試終端所占用的終測儀開銷越來越大，導(dǎo)致生產(chǎn)過程中昂貴的綜測儀表的空閑時(shí)間占比增加，為了解決該問題，創(chuàng)遠(yuǎn)開創(chuàng)性地推出了T6281手機(jī)序列測試接口開關(guān)，可以對(duì)已有的手機(jī)生產(chǎn)線進(jìn)行簡單改造，即可提升手機(jī)綜測儀的使用率接近100%，并極大提升人均的產(chǎn)出。

徐逢春分析，非信令測試是手機(jī)產(chǎn)業(yè)和測試儀表產(chǎn)業(yè)發(fā)展的必然趨勢，手機(jī)生產(chǎn)線上使用的手機(jī)綜測儀，將很快統(tǒng)一到非信令的模式。通過采用非信令測試，不僅儀器儀表的開支能夠有可觀的降低，更重要的是可以提高手機(jī)的測試速度和測試穩(wěn)定性，由此可以為手機(jī)生產(chǎn)線帶來人工、場地、供電等一系列配套開支的節(jié)省。

“預(yù)計(jì)到今年，非信令測試將成主流測試方式。非信令測試市場的競爭也趨向白熱化。”
---安立公司產(chǎn)品經(jīng)理蔣大勃

安立公司產(chǎn)品經(jīng)理蔣大勃表示智能終端和平板電腦取得了巨大成功，在生產(chǎn)線上需要對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行快速的測試。同時(shí)，無線通信制式也在不斷的演進(jìn)和發(fā)展，導(dǎo)致通信標(biāo)準(zhǔn)多樣化。非信令測試和傳統(tǒng)的信令測試相比，測試時(shí)間短，效率高。隨著芯片技術(shù)的成熟，近兩年以來，手機(jī)測試市場從傳統(tǒng)的信令測試開始向非信令測試演進(jìn)。

為了滿足目前產(chǎn)線測試需求，安立公司推出了MT8870A 通用無線測試儀。該儀表可以支持多種無線標(biāo)準(zhǔn)，包括GSM/WCDMA/TDSCDMA/CDMA/LTE 和BT /WLAN，還可以支持FM RDS，GPS，DVB等。頻率范圍可達(dá)6GHz，160M帶寬，滿足了當(dāng)前和以后的測試需求。MT8870A采用模塊化設(shè)計(jì)思想，可以安裝多至4個(gè)TRX模塊，具備同時(shí)測試多臺(tái)設(shè)備的能力，可大幅提高產(chǎn)線效率并降低成本。

蔣大勃認(rèn)為，目前大多數(shù)廠家都已經(jīng)采用非信令測試方案。預(yù)計(jì)到今年，非信令測試將成主流測試方式。非信令測試市場的競爭也趨向白熱化。

“非信令測試助力終端廠商在激烈的市場競爭中脫穎而出”
---NI無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏

美國國家儀器有限公司（NI）無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏表示，中國作為全球的手機(jī)制造基地，手機(jī)廠商正面臨日益激烈的市場競爭。如何在保持產(chǎn)品質(zhì)量的前提下，迅速加快產(chǎn)品周期并降低成本，一直是手機(jī)廠商首要考慮的問題。

湯敏指出，產(chǎn)線測試是制造過程中關(guān)鍵的一環(huán)，可靠、高效、精準(zhǔn)的產(chǎn)測方式是良好地解決質(zhì)量、成本及效率三大矛盾的重要途徑。目前，主流移動(dòng)終端廠商針對(duì)移動(dòng)設(shè)備紛紛采用非信令測試的方式，由于“非信令模式”無需建立信令呼叫，可以省去由于信令所需要的大量時(shí)間，在提高產(chǎn)測效率的同時(shí)節(jié)約生產(chǎn)成本，可有效助力終端廠商在激烈的市場競爭中脫穎而出。

湯敏表示，相對(duì)飛速發(fā)展的電子科技來說，測試測量是個(gè)比較保守的行業(yè)，但NI卻是行業(yè)里的開拓者和創(chuàng)新者。NI在2012年推出了創(chuàng)新的矢量信號(hào)收發(fā)儀（VST）NI PXIe-5644R和NI PXIe-5645R，開拓了模塊化儀器這一新領(lǐng)域。這兩款新產(chǎn)品是全新的軟件完全自定義儀器，不僅具備快速的測量速度和小巧的生產(chǎn)測試儀器組成結(jié)構(gòu)，同時(shí)還擁有研發(fā)級(jí)箱型儀器的靈活性和高性能。基于VST可以實(shí)現(xiàn)包括手機(jī)測試、基站故障診斷測試、LTE/LTE-A測試、小基站測試等應(yīng)用和解決方案。對(duì)于移動(dòng)終端生產(chǎn)制造過程中的非信令測試，VST提供了“一站式、一拖多”的解決方案，即在同個(gè)系統(tǒng)上支持當(dāng)前所有的2G/3G/4G標(biāo)準(zhǔn)，集成WLAN、藍(lán)牙、GPS、收音機(jī)各項(xiàng)功能測試，并且這款系統(tǒng)支持多部手機(jī)并行測試。這些亮點(diǎn)不僅幫助終端制造商顯著降低測試成本，更較傳統(tǒng)的多站式測試縮短了60%的時(shí)間。

湯敏告訴微波射頻網(wǎng)記者，NI正在與一些前沿的合作伙伴，包括芯片供應(yīng)商，OEM廠商和電子制造服務(wù)（EMS）提供商展開合作，為移動(dòng)終端的非信令測試提供行業(yè)領(lǐng)先的解決方案。

綜上所述，在LTE終端設(shè)備產(chǎn)測過程中采用非信令測試模式，可以顯著提高測試效率并降低測試成本，使得LTE終端設(shè)備制造商大為受益。而且，終端制造商仍可持續(xù)改良這些技術(shù)，實(shí)現(xiàn)更快、更具成本效益的測試方式。隨著LTE時(shí)代的到來，非信令測試正逐漸成熟，并將成為主流生產(chǎn)測試方式。