安捷倫（Agilent）日前推出EEsof EDA E4727A先進(jìn)低噪聲分析儀。這套結(jié)合硬件和軟件的下一代噪聲分析系統(tǒng)，可測(cè)量并分析閃爍噪聲（Flicker Noise）和隨機(jī)電報(bào)噪聲（RTN）。

閃爍噪聲長(zhǎng)期以來(lái)被認(rèn)為是重要的電子組件特性。它對(duì)于主動(dòng)混頻器、壓控振蕩器、分頻器、運(yùn)算放大器和比較器的性能有顯著影響，而這些組件正是射頻（RF）、模擬/混合（Analog/Mixed）信號(hào)，及高速有線通信應(yīng)用的基礎(chǔ)建構(gòu)要件。閃爍噪聲和RTN也是半導(dǎo)體材料與制程的敏感指標(biāo)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷推陳出新，業(yè)界更迫切需要對(duì)低頻噪聲進(jìn)行測(cè)量。

安捷倫新的先進(jìn)低噪聲分析儀是為了應(yīng)對(duì)新挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)，其獨(dú)特的模組化設(shè)計(jì)有助于降低系統(tǒng)噪聲，并在超低頻率下提供各項(xiàng)測(cè)量功能，提供市場(chǎng)理想的高電壓/高電流處理能力。

安捷倫EEsof EDA器件建模產(chǎn)品經(jīng)理Brian Chen介紹說(shuō)，“安捷倫將創(chuàng)新測(cè)量算法納入E4727A分析儀中，提供業(yè)界更快的測(cè)量速度，并且大幅提高客戶投資報(bào)酬率。”