LitePoint的藍牙低功耗OTA測試方案已通過Nordic的驗證認可
Nordic 的藍牙低功耗芯片讓先進物聯(lián)網(wǎng)(IoT) 裝置制造商能夠
迅速將創(chuàng)新的物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品推向市場
無線測試解決方案的領(lǐng)先提供商LitePoint® 近日宣布Nordic Semiconductor 已驗證LitePoint IQxel-M Bluetooth Advanced 無線測試方案,方案可用于對搭載Nordic 市場主流藍牙低功耗系統(tǒng)級芯片(SoC) 的產(chǎn)品進行OTA 測試。
對于在產(chǎn)品中采用Nordic nRF51 和nRF52 系列系統(tǒng)級芯片(SoC) 的IoT 裝置制造商而言,這意味著他們能夠?qū)Ξa(chǎn)品快速執(zhí)行關(guān)鍵的OTA 性能及功能測試,從而驗證其產(chǎn)品設(shè)計并投放生產(chǎn)。Bluetooth LE 裝置通常采用完全封裝,所以必須執(zhí)行OTA 測試,而不允許使用傳統(tǒng)的有線測試方法。
此外,采用IQxel-M 系統(tǒng)測試搭載nRF51 和nRF52 系列SoC 的產(chǎn)品時無需特殊的測試固件,而是使用系統(tǒng)自有的商用固件,這可以確保測量結(jié)果與該裝置在最終應(yīng)用中的使用方式相關(guān)聯(lián)。
Nordic 網(wǎng)站發(fā)布的白皮書 中稱: “具備LitePoint Bluetooth Advanced 測量解決方案的IQxel-M 可以測量發(fā)射器功率、發(fā)射器質(zhì)量和接收器敏感度,完全覆蓋設(shè)備的無線性能參數(shù),使產(chǎn)品的無線性能得到有效保證。”
Nordic 市場領(lǐng)先的nRF51 和nRF52 系列藍牙低功耗SoC 基于ARM® M0、M4 和M4F 處理器,可用于各種具有不同功能特性及閃存和RAM 存儲容量的裝置,適用于所有功耗和成本級的應(yīng)用。所有的Nordic 藍牙低功耗解決方案均完全符合從藍牙4.0 到最新版本的藍牙技術(shù)規(guī)范。
Nordic Semiconductor 技術(shù)支持部門經(jīng)理Jon Gunnar Sponås 表示: “Nordic 提供尖端的無線連接產(chǎn)品,助力先進IoT 應(yīng)用。但是,在輕松易用的開發(fā)工具背后卻隱藏著不為設(shè)計師所知的產(chǎn)品復(fù)雜性,所以產(chǎn)品上市時間非常緊張。通過與LitePoint 合作并采用其創(chuàng)新的OTA 技術(shù),Nordic 可以將設(shè)計工作的簡易性延展到產(chǎn)品測試中,因為這意味著我們可以在最終產(chǎn)品完全組裝好后再執(zhí)行檢測,從而更好地模擬現(xiàn)實世界的情況。”
LitePoint 產(chǎn)品營銷總監(jiān)Adam Smith 表示: “IoT 系統(tǒng)和傳感器制造商必須在對優(yōu)質(zhì)射頻的需求與成本敏感之間做好取舍平衡,而前者攸關(guān)產(chǎn)品成敗。我們的IQxel-M 無線測試解決方案易于部署,可以滿足全封裝IoT 裝置的測試需求。我們很高興與Nordic Semiconductor 合作,為其客戶提供經(jīng)驗證的可靠系統(tǒng)。”
IQxel-M 技術(shù)亮點
IQxel-M 是一款用于無線連接測試的綜合性一體化測試解決方案,廣泛支持各種無線標(biāo)準(zhǔn),包括Wi-Fi、藍牙、Zigbee、LoRa 和Sigfox。IQxel-M 還支持包括GPS、GLONASS 和Beidou 在內(nèi)的導(dǎo)航技術(shù)。該系統(tǒng)可對多臺設(shè)備(multi-DUT) 執(zhí)行并行測試,并同時支持對多種技術(shù)(Multicom™) 進行并發(fā)測試。
IQxel-M 從最初即采用強固緊湊型設(shè)計構(gòu)造,2U 高度機箱可以放入標(biāo)準(zhǔn)的19 英寸機架,輕松實現(xiàn)機架堆疊式配置。
如需獲取關(guān)于LitePoint 公司IoT 解決方案的更多信息,請訪問LitePoint 網(wǎng)站。
如需詳細了解如何通過OTA 測試來描述和驗證藍牙低功耗設(shè)備,可以參考題為 “nRF5x OTA Testing with LitePoint Bluetooth Advanced (使用LitePoint Bluetooth Advanced 解決方案執(zhí)行nRF5x OTA 測試)” 的白皮書,此白皮書可以在Nordic Semiconductor 網(wǎng)站的信息中心(Infocenter) 找到。