頻域近場測量四種取樣方式的特點(diǎn)如表7所示，從這個表格可以看出，部分應(yīng)用研究方向仍是未來研究繼續(xù)探討的方向。

表7 頻域四種取樣方式特點(diǎn)

近場測量的分類

根據(jù)近場測量的研究方向和應(yīng)用方向，近場測量可大致歸為下面三類，如表6所示。

表6 近場測量的分類

五、展望

回顧過去的前人所做的工作，可以看出未來研究工作應(yīng)集中以下幾個方向：

1、柱面、球面各項(xiàng)誤差的分析．這方面雖有進(jìn)展，但截止目前尚未見公開報導(dǎo)。

2、低或超低副瓣天線的實(shí)時檢測口徑診斷雖然有了可喜的進(jìn)展^[21-24]，但距實(shí)用還相差較遠(yuǎn)。

3、目標(biāo)散射特性的研究目前僅限于簡單目標(biāo)的特性實(shí)驗(yàn)研究^[17.20]，復(fù)雜目標(biāo)的實(shí)驗(yàn)研究尚處于探索時期，近場散射測量的探頭型式還須進(jìn)一步的探討。

4、目標(biāo)成像的研究雖剛剛起步^[25,26]，但應(yīng)用前景非常廣闊。

5、測試環(huán)境引入的誤差研究，雖然有了時域理論^[17]，但尚未推廣使用，其原因是工程實(shí)施較困難，簡單已行的工程實(shí)用研究仍是研究的主要課題之一。

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