天線(xiàn)近場(chǎng)測(cè)量的綜述
頻域近場(chǎng)測(cè)量四種取樣方式的特點(diǎn)如表7所示，從這個(gè)表格可以看出，部分應(yīng)用研究方向仍是未來(lái)研究繼續(xù)探討的方向。
表7 頻域四種取樣方式特點(diǎn)
| 特點(diǎn) | 掃描方式 | ||
| 平面/極平面 | 柱面 | 球面 | |
| 理論公式計(jì)算 | 簡(jiǎn)單 | 復(fù)雜 | 復(fù)雜 |
| 探頭校準(zhǔn) | 簡(jiǎn)單 | 稍難 | 較難 |
| 取樣方式的控制算法 | 簡(jiǎn)單 | 稍復(fù)雜 | 復(fù)雜 |
| 采樣時(shí)間 | 短 | 較長(zhǎng) | 長(zhǎng) |
| 計(jì)算時(shí)間 | 短 | 較長(zhǎng) | 長(zhǎng) |
| 測(cè)試環(huán)境要求 | 一般 | 中 | 高 |
| 各種誤差分析 | 已完成 | 未完成 | 未完成 |
| 計(jì)算遠(yuǎn)場(chǎng)局限性 | 0＜計(jì)算角域＜180° | 0＜θ＜180° | 除球心外的任意角域 |
| 適用測(cè)量對(duì)象 | 筆形波束天線(xiàn) | 扇形波束天線(xiàn) | 各種形式的天線(xiàn) |
近場(chǎng)測(cè)量的分類(lèi)
根據(jù)近場(chǎng)測(cè)量的研究方向和應(yīng)用方向，近場(chǎng)測(cè)量可大致歸為下面三類(lèi)，如表6所示。
表6 近場(chǎng)測(cè)量的分類(lèi)
| 分法 | 研究域 | 測(cè)量功能 | 取樣面形式 | |
| 類(lèi) 別 |
頻域 | 輻射 | 平面/極平面 | |
| 柱面 | ||||
| 時(shí)域 | 散射 | |||
| 球面 |
五、展望
回顧過(guò)去的前人所做的工作，可以看出未來(lái)研究工作應(yīng)集中以下幾個(gè)方向：
1、柱面、球面各項(xiàng)誤差的分析．這方面雖有進(jìn)展，但截止目前尚未見(jiàn)公開(kāi)報(bào)導(dǎo)。
2、低或超低副瓣天線(xiàn)的實(shí)時(shí)檢測(cè)口徑診斷雖然有了可喜的進(jìn)展[21-24]，但距實(shí)用還相差較遠(yuǎn)。
3、目標(biāo)散射特性的研究目前僅限于簡(jiǎn)單目標(biāo)的特性實(shí)驗(yàn)研究[17.20]，復(fù)雜目標(biāo)的實(shí)驗(yàn)研究尚處于探索時(shí)期，近場(chǎng)散射測(cè)量的探頭型式還須進(jìn)一步的探討。
4、目標(biāo)成像的研究雖剛剛起步[25,26]，但應(yīng)用前景非常廣闊。
5、測(cè)試環(huán)境引入的誤差研究，雖然有了時(shí)域理論[17]，但尚未推廣使用，其原因是工程實(shí)施較困難，簡(jiǎn)單已行的工程實(shí)用研究仍是研究的主要課題之一。
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