基于上海創遠儀器技術股份有限公司研制的TM系列高性能射頻開關矩陣和兩端口矢量網絡分析儀實現TD-LTE9端口智能多頻天線S參數自動測試，包括端口駐波、相鄰端口隔離度、校準口到各天線單元端口的幅相一致性等指標的測試。

· 一次連接，自動完成天線S參數指標的測試。
· 減輕測試勞動強度，減少測試時間，提高生產效率。
· TM內置匹配負載，空閑端口自動連接到匹配負載，保證測試結果的準確性和一致性。
· 測試結果自動保存，根據定制模版生產測試報表。
· 電子校準件校準，大大減少校準時間。

傳統人工測試

· 測量9端口單極化TD-LTE天線的S參數，需要15次連接才能完成。
· 測量9端口單極化TD-LTE天線的S參數，需要35次連接才能完成。
· 工作量相當大，操作繁瑣耗時，容易出現誤操作，測試準確性難以保證。
· 選用9端口以上網絡分析儀，儀器昂貴，生產成本難將接受。

TM系列高性能射頻開關矩陣簡介

上海創遠儀器技術股份有限公司研制的TM系列高性能射頻開關矩陣，包括2x8、2x9、2x10、2x12等多種規格，實現全交叉連接，端口駐波小于1.2，端口隔離度高達85dB，內置匹配負載，空閑端口自動連接到匹配負載，保證測試結果的準確性和一致性。

來源：上海創遠儀器技術股份有限公司