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芯片的可測性設(shè)計(jì)DFT
發(fā)布時(shí)間:2021-02-23關(guān)鍵詞:芯片測試 -
相位噪聲的兩種定義與測試方法簡述
發(fā)布時(shí)間:2020-12-28關(guān)鍵詞:相位噪聲 -
淺析矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀誤差模型及校準(zhǔn)
最近跟業(yè)界一位同仁討論了矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的誤差模型及校準(zhǔn)過程,簡單整理了一下,分享給大家,歡迎一起討論。
發(fā)布時(shí)間:2020-11-25關(guān)鍵詞:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀